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有誰知道:近紅外光譜儀的用途?
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  • 近紅外光譜儀可以測量物體的薄膜厚度,可以測量的膜層厚度10nm-50μm,分辨率為1nm。除此之外還會被應用在金屬和玻璃材料基底上光學膜層厚度的測量。
  • 近紅外光譜儀基本配置包括一個光柵,一個狹縫,和一個探測器。這些部件的參數在選購光譜儀時必須詳細說明。光譜儀的性能取決于這些部件的組合與校準,校準后光纖光譜儀,原則上這些配件都不能有任何的變動。
  • 近紅外光譜儀可以通過獲得紫外線的光譜來測量紫外線強度。可以先使用樣品收集紫外線,然后在通過研究紫外線的樣品的光譜來得到需要的研究數據。科研人員可以使用樣品固定器進行樣品的吸收率測量。
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