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熒光光譜儀的特點是怎樣的?大俠們,求解
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  • 熒光光譜儀可以測量物體的薄膜厚度,可以測量的膜層厚度10nm-50μm,分辨率為1nm。除此之外還會被應用在金屬和玻璃材料基底上光學膜層厚度的測量。
  • 熒光光譜儀的基本結構由光柵、狹縫和探測器組成。在購買光譜儀時,必須詳細說明這些元件的參數。光譜儀的性能取決于這些元件的組合和校準。校準后,光纖光譜儀的原理不能改變。
  • 熒光光譜儀基本配置包括一個光柵,一個狹縫,和一個探測器。這些部件的參數在選購光譜儀時必須詳細說明。光譜儀的性能取決于這些部件的組合與校準,校準后光纖光譜儀,原則上這些配件都不能有任何的變動。
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