眼鏡膜厚儀的磁感應測量原理主要基于磁通量與覆層厚度的關系。當測頭接近被測物體時，它會產生一個磁場，該磁場從測頭穿過非鐵磁覆層進入鐵磁基體。由于磁場在非鐵磁材料和鐵磁材料中的傳播特性不同，因此通過測量從測頭流入基體的磁通量大小，可以間接地確定覆層的厚度。具體來說，當覆層較薄時，磁通量較大，因為大部分磁場能夠穿透覆層進入基體；而當覆層增厚時，磁通量會相應減小，因為磁場在穿越較厚的覆層時會遇到更多的阻力。通過測量磁通量的變化，就可以準確地計算出覆層的厚度。此外，磁感應測量原理還考慮了磁阻的因素。覆層的磁阻與其厚度成正比，因此也可以通過測量磁阻來推算覆層的厚度。這種方法的優點在于其測量精度較高，且對覆層材料的性質不敏感，因此適用于多種不同類型的眼鏡膜層。總的來說，眼鏡膜厚儀的磁感應測量原理是一種基于磁場和磁通量變化的測量方法，它通過測量磁場在覆層和基體之間的傳播特性來確定覆層的厚度。這種方法具有高精度、高穩定性以及廣泛適用性的特點，因此在眼鏡制造和檢測領域得到了廣泛應用。