二氧化硅膜厚儀的測量原理是?
二氧化硅膜厚儀的測量原理主要基于光的干涉現象。當單色光垂直照射到二氧化硅膜層表面時,光會在膜層表面和膜層與基底的界面處發生反射。這兩束反射光在返回的過程中會發生干涉,即相互疊加,產生干涉條紋。干涉條紋.. 全文
光譜膜厚測量儀支持的厚度范圍?
哪位大仙,急急急!我們該怎么與植物光譜測量儀廠家合作呢?
選擇植物光譜測量儀廠家的話,可以盡量選擇有歷史的廠家。購買檢測儀就有很好的保障,可以買的放心,用的安心。實現真正的物有所值。 全文
敢問大家,熒光量子測定儀廠家要怎么進行合作?
可以從服務質量方面選擇熒光量子測定儀廠家。選擇服務質量好的廠家,一旦出現故障,可及時修復,不影響企業生產。 全文