二氧化硅膜厚(hou)儀的測量原理是?
二氧化硅膜厚儀的測量原理主要基于光的干涉現象。當單色光垂直照射到二氧化硅膜層表面時,光會在膜層表面和膜層與基底的界面處發生反射。這兩束反射光在返回的過程中會發生干涉,即相互疊加,產生干涉條紋。干涉條紋.. 全文
AG防(fang)眩光涂層膜厚儀(yi)的使用(yong)方法
派瑞林膜厚測量儀是否容易設(she)置和操作?
派瑞林膜厚測量儀的設置與操作是否容易,主要取決于使用者的經驗和技術水平,以及測量儀本身的性能和功能設計。一般而言,大多數膜厚測量儀都力求在易用性方面進行優化,以便用戶能夠快速上手并進行準確的測量。首先.. 全文
請問誰知道:透光率測試系統它的用法(fa)有?
用透光率測試系統測定濁度,測定方法是:根據液體的吸收特性,用透過懸浮體的光強度來決定懸浮體的濃度(單位體積中質點的數目),此時先用潔凈的蒸餾水裝于儀器附件樣品杯內,作為標準樣品置于樣品臺上,在按測試鈕.. 全文
增(zeng)值電信業務(wu)經營(ying)許可證:粵(yue)B2-20191121 | 網站備(bei)案編(bian)號(hao):粵(yue)ICP備(bei)10200857號(hao)-23 | 高新技術企業:GR201144200063 | 粵(yue)公(gong)網安備(bei) 44030302000351號(hao)
Copyright ? 2006-2025 深圳市天助人(ren)和信息技術有限(xian)公司(si) 版權(quan)所有 網站統計