PET膜膜厚測試儀主要采用的是光學測量原理，其中白光干涉原理是一種常見且精確的方法。

白光干涉測厚儀是一種非接觸式的測量設備，它利用白光干涉現象來精確測量物體的厚度。在測量PET膜厚度時，首先需要將PET膜樣品放置在測厚儀的測量臺上，確保樣品表面平整。隨后，儀器會通過光學系統發出一束白光，這束光會照射到PET膜上，并與膜表面的反射光線形成干涉。這些干涉光信號隨后被接收器捕獲，并通過干涉圖案的變化來進行分析計算，從而得出PET膜的厚度。

白光干涉測厚儀具有高精度和重復性的優勢，能夠為PET膜的厚度測量提供可靠的數據。其測量原理基于光的干涉現象，通過精確控制和分析干涉圖案的變化，可以實現對膜厚度的精確測量。

此外，這種測厚儀還具有非接觸式的特點，避免了傳統接觸式測量可能帶來的損傷和誤差。同時，其操作簡便、測量速度快，適用于大規模生產和質量控制的需求。

綜上所述，PET膜膜厚測試儀主要采用白光干涉原理進行測量，通過非接觸式的方式實現對膜厚度的精確、快速測量，為PET膜的生產和應用提供了重要的技術支持。