AOI的(de)全(quan)稱是自(zi)(zi)動(dong)光(guang)學檢(jian)測，是基于(yu)光(guang)學原理(li)來(lai)對焊(han)接生產中遇到的(de)常見缺(que)陷進(jin)行(xing)檢(jian)測的(de)設備(bei)。AOI是新(xin)興起的(de)一種新(xin)型測試(shi)技術，河源離線(xian)aoi自(zi)(zi)動(dong)光(guang)學檢(jian)測儀(yi)，但發展迅速，很多廠家(jia)都推(tui)出(chu)了AOI測試(shi)設備(bei)。當自(zi)(zi)動(dong)檢(jian)測時，機(ji)器通(tong)過攝像(xiang)(xiang)頭自(zi)(zi)動(dong)掃描PCB，離線(xian)aoi自(zi)(zi)動(dong)光(guang)學檢(jian)測儀(yi)工(gong)廠，采集圖(tu)像(xiang)(xiang)，測試(shi)的(de)焊(han)點與數(shu)據庫中的(de)合格(ge)的(de)參(can)數(shu)進(jin)行(xing)比較(jiao)，經(jing)過圖(tu)像(xiang)(xiang)處(chu)理(li)，檢(jian)查出(chu)PCB上缺(que)陷，并通(tong)過顯(xian)示器或自(zi)(zi)動(dong)標(biao)(biao)志把(ba)缺(que)陷顯(xian)示/標(biao)(biao)示出(chu)來(lai)，離線(xian)aoi自(zi)(zi)動(dong)光(guang)學檢(jian)測儀(yi)價格(ge)，供維修人員(yuan)修整(zheng)。

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在印制板的銅的表面檢查顯影后的圖形使用的更為普遍。對顯影后的圖形檢查，主要側重點檢查的是圖形的對準程度和質量缺陷，同時也可以通過對顯影圖形的檢查，也可以及時發現光具(底片)圖像是否有缺陷或其它如灰塵、劃傷或沾污，或曝光機存在的其它問題。使用AOI對表面圖形的檢查，就是利用圖形介于光敏抗蝕膜的顏色反射能力低和銅顏色反射能力高的差別進行檢查。因為抗蝕劑層的顏色發暗，因此兩者比較容易好對比。

孔(kong)金屬(shu)(shu)化(hua)前(qian)主要檢查(cha)(cha)(cha)銅(tong)焊盤的清潔程度和(he)孔(kong)的位置、悍盤的位置。微(wei)孔(kong)的檢查(cha)(cha)(cha)理想的是(shi)(shi)適合AOI 系(xi)統檢測，因為激光(guang)(不是(shi)(shi)白色光(guang))鉆(zhan)的孔(kong)，能夠獨立的檢查(cha)(cha)(cha)銅(tong)和(he)介質(zhi)材料，這因為利用銅(tong)的反(fan)射(she)和(he)介質(zhi)的熒光(guang)圖形獲(huo)得通(tong)道。微(wei)孔(kong)金屬(shu)(shu)化(hua)后檢查(cha)(cha)(cha)是(shi)(shi)通(tong)過(guo)另(ling)外信息達到檢測孔(kong)壁金屬(shu)(shu)化(hua)表(biao)面覆蓋狀(zhuang)態，則且設定孔(kong)壁的角度進行(xing)檢查(cha)(cha)(cha)。

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