可以(yi)說基于任何(he)圖(tu)像傳(chuan)感方法（如可見光(guang)成像、紅(hong)外成像、超聲(sheng)成像等等）的(de)(de)自(zi)動(dong)化檢(jian)測技術都可以(yi)認(ren)為(wei)是(shi)MVI或AVI。當采用光(guang)學成像方法時(shi)，MVI實際上就變為(wei)AOI。因此AOI可以(yi)認(ren)為(wei)是(shi)MVI的(de)(de)一種特(te)例。

根據成像方法的不同，寧夏aoi自動光學檢測機，AOI又可分為三維（3D）AOI和二維（2D）AOI，aoi自動光學檢測機廠家，三維AOI 主要用于物體外形幾何參數的測量、零件分組、定位、識別、機器人引導等場合； 二維AOI主要用于產品外觀（色彩、缺陷等）檢測、不同物體或外觀分類、良疵品檢測與分類等場合。

圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)傳(chuan)感器(qi)（相機(ji)）采用(yong)面陣或線陣需根據(ju)具體情(qing)況(kuang)而定，aoi自動(dong)光(guang)學檢測(ce)機(ji)公司，選(xuan)型時(shi)需要(yao)考慮的(de)(de)因(yin)素(su)有成像(xiang)(xiang)(xiang)視(shi)場(chang)、空(kong)間分辨率、曝(pu)(pu)光(guang)時(shi)間、幀率、數據(ju)帶寬等。對(dui)于運(yun)動(dong)物(wu)體的(de)(de)檢測(ce)，要(yao)考慮圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)運(yun)動(dong)模糊帶來的(de)(de)不(bu)利影響，準確計(ji)算(suan)導致運(yun)動(dong)模糊的(de)(de)zui小曝(pu)(pu)光(guang)時(shi)間，確定圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)傳(chuan)感器(qi)的(de)(de)型號(hao)。圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)傳(chuan)感器(qi)的(de)(de)曝(pu)(pu)光(guang)時(shi)間應小于導致運(yun)動(dong)模糊的(de)(de)zui小曝(pu)(pu)光(guang)時(shi)間，快速曝(pu)(pu)光(guang)選(xuan)擇全局快門模式為宜，高(gao)速情(qing)況(kuang)下不(bu)易采用(yong)卷簾(lian)式曝(pu)(pu)光(guang)模式；為了獲得zui佳(jia)的(de)(de)信(xin)噪比(bi)，圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)傳(chuan)感器(qi)的(de)(de)增益(yi)盡可(ke)能(neng)(neng)為1，圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)亮度的(de)(de)提升盡可(ke)能(neng)(neng)用(yong)光(guang)源的(de)(de)能(neng)(neng)量(liang)（功率）來彌(mi)補，或者在不(bu)影響可(ke)用(yong)的(de)(de)成像(xiang)(xiang)(xiang)景深情(qing)況(kuang)下，增大(da)鏡頭的(de)(de)孔(kong)徑光(guang)闌(lan)。

在激烈的(de)(de)(de)(de)市場競爭(zheng)中(zhong)，電子產品制造廠商必須確保(bao)產品的(de)(de)(de)(de)質量，為了保(bao)證(zheng)產品的(de)(de)(de)(de)質量，在產品制造過程中(zhong)對各個(ge)生(sheng)產環節半成品或成品進行(xing)質量監測(ce)尤為重要，aoi自(zi)動光(guang)(guang)學檢(jian)測(ce)機價錢，隨著表面組(zu)(zu)裝(zhuang)技術(shu)(SMT) 中(zhong)使用(yong)的(de)(de)(de)(de)印制電路板線路圖(tu)形精細化、SMD 元件(jian)微(wei)型化及SMT組(zu)(zu)件(jian)高密度組(zu)(zu)裝(zhuang)、快速組(zu)(zu)裝(zhuang)的(de)(de)(de)(de)發展趨(qu)勢，采(cai)用(yong)目檢(jian)或人工光(guang)(guang)學檢(jian)測(ce)的(de)(de)(de)(de)方式檢(jian)測(ce)已不(bu)能適應(ying)，自(zi)動光(guang)(guang)學檢(jian)測(ce)(A0I) 技術(shu)作(zuo)為質量檢(jian)測(ce)的(de)(de)(de)(de)技術(shu)手段已是大勢所趨(qu)。