FCT功(gong)(gong)能(neng)(neng)測(ce)試(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)的(de)(de)作(zuo)用有那些呢？在弄清楚這個問題之前我(wo)們必須先要明白什(shen)么是(shi)FCT功(gong)(gong)能(neng)(neng)測(ce)試(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)，FCT測(ce)試(shi)系統(tong)，FCT功(gong)(gong)能(neng)(neng)測(ce)試(shi)它指的(de)(de)是(shi)對(dui)要進(jin)行測(ce)試(shi)的(de)(de)目標板提(ti)供模擬激勵(li)和負(fu)載的(de)(de)運行環(huan)境，使(shi)目標板工作(zuo)在各種(zhong)我(wo)們進(jin)行的(de)(de)設計狀態，從而獲取到各個狀態的(de)(de)參數來(lai)驗證UUT的(de)(de)功(gong)(gong)能(neng)(neng)好壞的(de)(de)測(ce)試(shi)方法。FCT功(gong)(gong)能(neng)(neng)測(ce)試(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)是(shi)一(yi)種(zhong)用來(lai)測(ce)試(shi)半制品(pin)/制品(pin)或生產環(huan)節中的(de)(de)某一(yi)個工序(xu)的(de)(de)，以此來(lai)檢測(ce)出產品(pin)是(shi)否合格，fct功(gong)(gong)能(neng)(neng)測(ce)試(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)使(shi)用于(yu)模仿、數字、存儲器、RF和電源電路，關(guan)于(yu)每一(yi)形式需(xu)求(qiu)相(xiang)對(dui)應的(de)(de)fct測(ce)試(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)。

電路板FCT治具(ju)測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)的好(hao)處：開關測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)工(gong)具(ju)可以測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)其他(ta)型號FCT功能測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)儀。是(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)pcba資(zi)格(ge)的測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)工(gong)具(ju)。分為(wei)兩少(shao)(shao)數(shu)。一(yi)個(ge)是(shi)主體(ti)少(shao)(shao)數(shu)，另一(yi)個(ge)是(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)夾(jia)具(ju)少(shao)(shao)數(shu)。主體(ti)少(shao)(shao)數(shu)包括計(ji)算機(ji)系(xi)統和(he)信號采樣系(xi)統，這少(shao)(shao)數(shu)很普遍。測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)夾(jia)具(ju)少(shao)(shao)數(shu)是(shi)固(gu)定(ding)大小，根據不(bu)同的目標測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)板制作固(gu)定(ding)、鉆頭(tou)孔。兩者是(shi)用(yong)帶(dai)狀電纜連接的。測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)其他(ta)主機(ji)時，只需(xu)更換測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)夾(jia)具(ju)，從(cong)計(ji)算機(ji)中調用(yong)相應(ying)的測(ce)(ce)(ce)(ce)驗(yan)(yan)(yan)程(cheng)序即(ji)可。

FCT功能測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)是對產品的(de)(de)功能進行測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的(de)(de)設備，它主要(yao)(yao)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)對象為PCBA電路板，PCBA需(xu)要(yao)(yao)經過不(bu)同的(de)(de)治(zhi)(zhi)具(ju)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)它的(de)(de)各方面性能，其(qi)中FCT測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)治(zhi)(zhi)具(ju)主要(yao)(yao)是對PCBA上電后的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，主要(yao)(yao)包(bao)括電壓、電流、功率(lv)、功率(lv)因素、頻率(lv)、占空(kong)比、亮(liang)度與(yu)顏(yan)色、字符識別、聲音識別、溫(wen)度測(ce)(ce)(ce)量、壓力測(ce)(ce)(ce)量、運動控制、FLASH和EEPROM燒錄(lu)等測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)項(xiang)目。