光(guang)伏組(zu)(zu)件(jian)(jian)原因：高溫、高濕(shi)的外(wai)界環境使得電池片和接(jie)地邊(bian)框之(zhi)間形成漏電流，封(feng)(feng)裝材料、背板(ban)、玻(bo)璃(li)和邊(bian)框之(zhi)間形成了(le)漏電流通道。通過使用改變絕緣膠膜乙(yi)烯酯（EVA）是實現(xian)組(zu)(zu)件(jian)(jian)抗PID的方(fang)式(shi)之(zhi)一，在(zai)使用不同EVA封(feng)(feng)裝膠膜條件(jian)(jian)下(xia)，組(zu)(zu)件(jian)(jian)的抗PID性能會存(cun)在(zai)差(cha)異(yi)。另外(wai)，光(guang)伏組(zu)(zu)件(jian)(jian)中的玻(bo)璃(li)主要(yao)為鈣鈉玻(bo)璃(li)，玻(bo)璃(li)對光(guang)伏組(zu)(zu)件(jian)(jian)的PID現(xian)象的影響至今尚不明(ming)確；

當(dang)光(guang)(guang)伏組(zu)件出現問(wen)題時，合肥光(guang)(guang)伏加盟，局(ju)部電阻升高，該區域溫度就(jiu)會升高。EL測試儀就(jiu)像我們體檢中的(de)X1光(guang)(guang)機一樣，可以(yi)對光(guang)(guang)伏組(zu)件進行體檢——通過紅外(wai)圖像拍攝，根(gen)據溫度不同，圖像呈現不同的(de)顏(yan)色，從而非(fei)常容(rong)易(yi)的(de)發現光(guang)(guang)伏組(zu)件的(de)很多問(wen)題：隱(yin)裂、熱(re)斑、PID效(xiao)應等(deng)(deng)。光(guang)(guang)伏組(zu)件在運(yun)(yun)輸(shu)、搬運(yun)(yun)、安裝(zhuang)等(deng)(deng)過程中，容(rong)易(yi)被、撞擊(ji)，導致(zhi)組(zu)件產生(sheng)不易(yi)察(cha)覺的(de)隱(yin)裂，極大影響組(zu)件輸(shu)出功率(lv)。

隨(sui)著光(guang)(guang)伏(fu)產(chan)業(ye)的(de)發展，成千上萬(wan)光(guang)(guang)伏(fu)電站在屋頂上悄然興建，據歐、美、日(ri)、中國(guo)等光(guang)(guang)伏(fu)發達國(guo)家的(de)經驗(yan)，潛在的(de)火(huo)災(zai)風險也隨(sui)之而來(lai)，光(guang)(guang)伏(fu)加(jia)(jia)盟商，屋頂光(guang)(guang)伏(fu)電站頻頻發生起(qi)火(huo)事故。光(guang)(guang)伏(fu)系(xi)統的(de)使用壽命，光(guang)(guang)伏(fu)加(jia)(jia)盟代理(li)，理(li)論在20年－25年，隨(sui)著光(guang)(guang)伏(fu)電站投入(ru)運行年限增加(jia)(jia)，逆變器(qi)中電子元器(qi)件會(hui)出現老(lao)化、電纜、觸點松動(dong)等問題，這(zhe)些(xie)系(xi)統內(nei)部(bu)原(yuan)因可能引發故障電弧，通(tong)常情況下光(guang)(guang)伏(fu)陣(zhen)列的(de)安(an)裝(zhuang)大(da)多是利用長串的(de)高電壓直流電源，間接增加(jia)(jia)了與電弧有關的(de)安(an)全(quan)問題。