射頻場感(gan)應的(de)傳導騷擾抗(kang)擾度

標準依據

IEC61000 - 4 - 6

EN61000-4-6

GB/T17626.6

試驗目的

評估通訊(xun)和電子設備的供電電源端(duan)口、信號(hao)和控制(zhi)端(duan)口在受到射頻(pin)電磁場感應的傳導騷擾信號(hao)干擾時(shi)的性能。

試驗設備

騷擾信號發生器

耦合去耦網絡

衰減器

電流鉗

電磁鉗

試驗等級（嚴酷度等級）

干擾電壓波形 (1kH z正弦波80%調幅 )

試驗連接圖

試驗結果判定

對于情形a，判為合格。

對于情 形b、c、d，電磁兼容性檢測(ce)費用，判為不合格。

脈沖磁場抗擾度

江蘇威闊檢(jian)測(ce)技術服(fu)務有(you)(you)限公司（以下簡稱(cheng)“VTL”）堅持“誠信、科學(xue)、準確、效率(lv)”的(de)質(zhi)(zhi)量(liang)方針，立足于(yu)電(dian)子(zi)電(dian)器、軌道交(jiao)通、汽車、新能源(yuan)等(deng)領(ling)域，構建了經驗(yan)(yan)豐(feng)富、技術硬的(de)檢(jian)測(ce)團(tuan)隊(dui)，為制造型企業(ye)提供良(liang)好(hao)的(de)檢(jian)測(ce)服(fu)務，電(dian)磁(ci)兼容性檢(jian)測(ce)，同時在(zai)軌交(jiao)產品領(ling)域獲得(de)了首(shou)批(pi)JRCC和CGC等(deng)城軌CURC認證(zheng)資(zi)質(zhi)(zhi)的(de)機構認可。驗(yan)(yan)室(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)下設(she)(she)部(bu)(bu)門(men)包(bao)括：檢(jian)測(ce)部(bu)(bu)、客(ke)服(fu)部(bu)(bu)、人(ren)事行(xing)政部(bu)(bu)、銷售部(bu)(bu)及質(zhi)(zhi)量(liang)部(bu)(bu)。試驗(yan)(yan)區設(she)(she)有(you)(you)高分子(zi)材料(liao)實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、熱學(xue)實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、阻燃實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、金屬材料(liao)實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、鹽霧實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、電(dian)池及零部(bu)(bu)件實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、環境與(yu)可靠性實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。目前擁有(you)(you)與(yu)檢(jian)測(ce)業(ye)務相(xiang)適應的(de)儀器設(she)(she)備300余臺套(tao)。

浪涌(yong)抗擾(rao)(rao)度(du)(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)所依據的是(shi)IEC61000-4-5:2005，對應(ying)是(shi)GB/T17626.2:200X《電(dian)(dian)磁(ci)兼容 試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)和測(ce)量技術浪涌(yong)（沖擊(ji)(ji)）抗擾(rao)(rao)度(du)(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)》。    浪涌(yong)（沖擊(ji)(ji)）抗擾(rao)(rao)度(du)(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)就是(shi)模(mo)擬(ni)雷(lei)擊(ji)(ji)帶來的干擾(rao)(rao)影響，生化(hua)儀電(dian)(dian)磁(ci)兼容性檢測(ce)，但(dan)需要(yao)指出的是(shi)，考(kao)核設備(bei)(bei)電(dian)(dian)磁(ci)兼容性能(neng)的浪涌(yong)抗擾(rao)(rao)度(du)(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)不(bu)同(tong)于(yu)考(kao)核設備(bei)(bei)高壓絕(jue)緣能(neng)力的耐壓試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)，攝(she)像頭電(dian)(dian)磁(ci)兼容性檢測(ce)，前(qian)者jj是(shi)模(mo)擬(ni)間接雷(lei)擊(ji)(ji)的影響（直接的雷(lei)擊(ji)(ji)設備(bei)(bei)通常都無法(fa)承受）。1.2浪涌(yong)（沖擊(ji)(ji)）抗擾(rao)(rao)度(du)(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)目的    本標準的目的是(shi)建立(li)一個(ge)(ge)共同(tong)的基(ji)準，以評價電(dian)(dian)氣(qi)和電(dian)(dian)子設備(bei)(bei)在遭(zao)受浪涌(yong)(沖擊(ji)(ji))時(shi)的性能(neng)。本標準規定了一個(ge)(ge)一致的試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)方法(fa)，以評定設備(bei)(bei)或系統對規定現象的抗擾(rao)(rao)度(du)(du)(du)。