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英飛(fei)思ESI坐落于(yu)美麗而(er)現代的蘇州工(gong)業園。
XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內完成。
溫馨提示:以上是關于長治膜厚儀EDX8000T型XRF鍍層測厚儀-英飛思科學的詳細介紹,產品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產品信息感興趣可以或者 ,您也可以查看更多與分析儀器相關的產品!
蘇州英飛思科學儀器有限(xian)公司
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