由于計(ji)(ji)量(liang)(liang)(liang)校(xiao)(xiao)準證書只是(shi)(shi)給出(chu)一組測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)值(zhi)，計(ji)(ji)量(liang)(liang)(liang)校(xiao)(xiao)準檢(jian)(jian)(jian)定(ding)，反映出(chu)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)設備計(ji)(ji)量(liang)(liang)(liang)校(xiao)(xiao)準的(de)示值(zhi)誤(wu)差，沒(mei)有作出(chu)合格(ge)與否(fou)的(de)判定(ding)。儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)設備是(shi)(shi)否(fou)合格(ge)；是(shi)(shi)否(fou)滿足預期(qi)的(de)使用要(yao)求；是(shi)(shi)否(fou)滿足相應檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)技術(shu)的(de)要(yao)求；出(chu)具(ju)的(de)數據是(shi)(shi)否(fou)可靠，就(jiu)要(yao)由檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)機構根(gen)據所開展的(de)檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)項目(mu)進行確(que)認。校(xiao)(xiao)準的(de)含義是(shi)(shi)：將(jiang)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)器(qi)(qi)(qi)具(ju)所指(zhi)示或代(dai)表的(de)量(liang)(liang)(liang)值(zhi)，按照(zhao)校(xiao)(xiao)準鏈，將(jiang)其溯源到標(biao)準所復現的(de)量(liang)(liang)(liang)值(zhi)。檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)和(he)計(ji)(ji)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)是(shi)(shi)兩(liang)個不(bu)同的(de)概念，但(dan)是(shi)(shi)它們密切相關。校(xiao)(xiao)準過后的(de)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)比(bi)未(wei)校(xiao)(xiao)準后的(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)（稱(cheng)為標(biao)準儀(yi)(yi)器(qi)(qi)(qi)）具(ju)有更高的(de)精度(du)。

在修(xiu)理(li)精密(mi)儀器(qi)儀表時，如(ru)果不小(xiao)心把小(xiao)零件碰掉，要(yao)(yao)(yao)先(xian)判斷可(ke)能(neng)(neng)掉下(xia)來的(de)(de)(de)地方(fang)。不要(yao)(yao)(yao)去(qu)尋找(zhao)它，也不要(yao)(yao)(yao)去(qu)扭轉它。您可(ke)以(yi)使用(yong)磁鐵掃(sao)描和(he)視線(xian)掃(sao)描進行搜索。通(tong)俗地說，儀器(qi)校準(zhun)檢測(ce)的(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)主(zhu)要(yao)(yao)(yao)是(shi)為了保證儀器(qi)的(de)(de)(de)精度能(neng)(neng)夠(gou)準(zhun)確正(zheng)常地運行，以(yi)保證產品(pin)的(de)(de)(de)質量(liang)(liang)能(neng)(neng)夠(gou)過(guo)硬。然(ran)后根據國家計量(liang)(liang)規(gui)程的(de)(de)(de)要(yao)(yao)(yao)求，儀器(qi)需要(yao)(yao)(yao)經過(guo)合格的(de)(de)(de)第三方(fang)校準(zhun)和(he)測(ce)試后才(cai)能(neng)(neng)使用(yong)。計量(liang)(liang)檢測(ce)的(de)(de)(de)可(ke)重復性與(yu)示指可(ke)變性之(zhi)間的(de)(de)(de)差(cha)異(yi)(yi)主(zhu)要(yao)(yao)(yao)是(shi)由于參數的(de)(de)(de)計算或觀測(ce)值的(de)(de)(de)數據處理(li)造成(cheng)的(de)(de)(de)，從(cong)而(er)導致概念(nian)上的(de)(de)(de)差(cha)異(yi)(yi)。

校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)的(de)(de)含(han)義是：在規(gui)定的(de)(de)條(tiao)件下，用(yong)一(yi)個可參(can)考(kao)(kao)的(de)(de)標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)，對(dui)包括參(can)考(kao)(kao)物質(zhi)在內的(de)(de)測(ce)量器具的(de)(de)特性賦值(zhi)，并確定其示值(zhi)誤(wu)差(cha)檢(jian)(jian)(jian)定應發檢(jian)(jian)(jian)定證(zheng)書(shu)、加蓋檢(jian)(jian)(jian)定印記或不合格通知(zhi)書(shu)；而(er)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)是發校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)證(zheng)書(shu)或校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)報告并且體現示值(zhi)誤(wu)差(cha)。檢(jian)(jian)(jian)定依據(ju)檢(jian)(jian)(jian)定規(gui)程(cheng)；而(er)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)依據(ju)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)規(gui)范/檢(jian)(jian)(jian)定規(gui)程(cheng)。在規(gui)定條(tiao)件下，為確定測(ce)量儀(yi)或測(ce)量系統(tong)所指示的(de)(de)量值(zhi)，或實物量具或參(can)考(kao)(kao)物質(zhi)所代表的(de)(de)量值(zhi)，與對(dui)應的(de)(de)由標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)所復現的(de)(de)量值(zhi)之(zhi)間關系的(de)(de)一(yi)組操作。