溫補(bu)振(zhen)蕩器的溫度范(fan)圍

溫(wen)度(du)(du)補(bu)(bu)(bu)償晶體(ti)振(zhen)(zhen)蕩(dang)器(qi)，其包括:底(di)(di)座(zuo);設(she)(she)置于(yu)底(di)(di)座(zuo)上(shang)的(de)(de)焊盤(pan);設(she)(she)置于(yu)底(di)(di)座(zuo)上(shang)的(de)(de)溫(wen)補(bu)(bu)(bu)芯片，溫(wen)補(bu)(bu)(bu)芯片的(de)(de)引腳與焊盤(pan)電(dian)連接;設(she)(she)置于(yu)底(di)(di)座(zuo)上(shang)的(de)(de)石(shi)英(ying)振(zhen)(zhen)子(zi);及焊接于(yu)底(di)(di)座(zuo)的(de)(de)頂部的(de)(de)金屬(shu)蓋(gai)板，用于(yu)封蓋(gai)溫(wen)補(bu)(bu)(bu)芯片和(he)石(shi)英(ying)振(zhen)(zhen)子(zi).本發明中溫(wen)補(bu)(bu)(bu)晶體(ti)振(zhen)(zhen)蕩(dang)器(qi)解決了(le)傳統溫(wen)補(bu)(bu)(bu)晶振(zhen)(zhen)中無法(fa)滿足在55℃～+85℃寬(kuan)(kuan)溫(wen)度(du)(du)范圍頻(pin)率穩定度(du)(du)≤±1ppm的(de)(de)問(wen)題，通過(guo)優化產(chan)品的(de)(de)結構和(he)調試方法(fa)，實現晶體(ti)振(zhen)(zhen)蕩(dang)器(qi)在55℃～+85℃寬(kuan)(kuan)溫(wen)度(du)(du)范圍頻(pin)率穩定度(du)(du)≤±1ppm的(de)(de)指標，溫(wen)補(bu)(bu)(bu)晶振(zhen)(zhen)，通過(guo)小型化和(he)集(ji)成化的(de)(de)設(she)(she)計，實現了(le)產(chan)品的(de)(de)SMD5032外(wai)形尺寸(cun).

溫補(bu)振蕩器(qi)工作的原理是什么呢？

我們知(zhi)道(dao)，如果增加匹(pi)配電(dian)容的容值，就能使振(zhen)(zhen)(zhen)蕩頻率降低(di)，溫(wen)補振(zhen)(zhen)(zhen)蕩器工(gong)作的原理即(ji)是(shi)通(tong)過測量溫(wen)度，然后自(zi)動(dong)調整外部(bu)的匹(pi)配電(dian)容矩陣(zhen)（改變(bian)接入的電(dian)容值），從而使頻率變(bian)得準確和穩(wen)定比(bi)如在計時器產品中，需要(yao)更高的精度，以達到(dao)較小的誤(wu)差(cha)，就要(yao)進行溫(wen)度補償。晶(jing)(jing)體產業(ye)一直數日系(xi)(xi)為(wei)與穩(wen)定，溫(wen)補晶(jing)(jing)振(zhen)(zhen)(zhen)原廠，其次即(ji)為(wei)臺系(xi)(xi)晶(jing)(jing)振(zhen)(zhen)(zhen)廠商(shang)，溫(wen)補晶(jing)(jing)振(zhen)(zhen)(zhen)報價(jia)，國內(nei)晶(jing)(jing)振(zhen)(zhen)(zhen)廠商(shang)正在大力開發(fa)2520貼片晶(jing)(jing)振(zhen)(zhen)(zhen)的產能之時，日系(xi)(xi)晶(jing)(jing)振(zhen)(zhen)(zhen)廠商(shang)1612貼片晶(jing)(jing)振(zhen)(zhen)(zhen)的就已經發(fa)展成熟了。

溫補振蕩器組成

溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)補(bu)償(chang)(chang)晶(jing)體(ti)振(zhen)(zhen)蕩(dang)器(qi)的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)-電(dian)壓(ya)補(bu)償(chang)(chang)碼(ma)特性曲線測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統(tong)(tong)，給出(chu)了(le)測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)(de)總(zong)體(ti)設計(ji)(ji)方案，測(ce)(ce)試(shi)(shi)服(fu)務器(qi)的(de)(de)(de)軟硬件(jian)設計(ji)(ji)方法和基于事件(jian)驅動的(de)(de)(de)計(ji)(ji)算(suan)機(ji)(ji)測(ce)(ce)試(shi)(shi)軟件(jian)模型.測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統(tong)(tong)由(you)計(ji)(ji)算(suan)機(ji)(ji)，測(ce)(ce)試(shi)(shi)服(fu)務器(qi)，高低溫(wen)(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)驗箱和高精(jing)度(du)數字(zi)(zi)頻(pin)率(lv)計(ji)(ji)等組成，由(you)人工(gong)方式設置溫(wen)(wen)(wen)(wen)箱溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)，恒溫(wen)(wen)(wen)(wen)時(shi)間，采用人工(gong)或自(zi)動方式選擇待(dai)測(ce)(ce)數字(zi)(zi)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)補(bu)償(chang)(chang)振(zhen)(zhen)蕩(dang)器(qi)試(shi)(shi)件(jian)，溫(wen)(wen)(wen)(wen)補(bu)晶(jing)振(zhen)(zhen)加工(gong)，提取待(dai)測(ce)(ce)數字(zi)(zi)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)補(bu)償(chang)(chang)振(zhen)(zhen)蕩(dang)器(qi)的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)碼(ma)和按溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)頻(pin)率(lv)穩定(ding)度(du)設定(ding)補(bu)償(chang)(chang)電(dian)壓(ya)碼(ma)，自(zi)動生成數字(zi)(zi)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)補(bu)償(chang)(chang)電(dian)路所需的(de)(de)(de)Intel-HEX格式的(de)(de)(de)單片機(ji)(ji)機(ji)(ji)器(qi)碼(ma)文件(jian).實(shi)驗結果表明，設計(ji)(ji)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統(tong)(tong)能(neng)夠滿足高精(jing)度(du)數字(zi)(zi)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)補(bu)償(chang)(chang)振(zhen)(zhen)蕩(dang)器(qi)批量生產的(de)(de)(de)需要.