測量判定方式

由于(yu)準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)測(ce)(ce)量占用(yong)的(de)(de)時間(jian)比較長，測(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)效率比較低，作為改進(jin)，電磁兼容基礎，實(shi)用(yong)中(zhong)常用(yong)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)檢波(bo)作第(di)—輪測(ce)(ce)試(shi)，因為三種檢波(bo)當(dang)中(zhong)，用(yong)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)檢波(bo)得到的(de)(de)測(ce)(ce)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)應當(dang)zui高，如果(guo)首輪測(ce)(ce)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)比標準(zhun)(zhun)(zhun)給定(ding)的(de)(de)準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)和(he)(he)平(ping)(ping)均(jun)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)都(dou)要來(lai)得低的(de)(de)話，則(ze)以后(hou)的(de)(de)試(shi)驗不用(yong)進(jin)行，便能判定(ding)試(shi)驗己經通過。 如果(guo)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)測(ce)(ce)試(shi)中(zhong)有部(bu)分測(ce)(ce)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)高于(yu)標準(zhun)(zhun)(zhun)規定(ding)準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)和(he)(he)平(ping)(ping)均(jun)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)，則(ze)就取超過部(bu)分的(de)(de)頻段(duan)補做(zuo)準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)和(he)(he)平(ping)(ping)均(jun)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)，即使這(zhe)樣，整個測(ce)(ce)試(shi)時間(jian)也短于(yu)全(quan)部(bu)用(yong)準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)和(he)(he)平(ping)(ping)均(jun)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)檢波(bo)的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)。

浪(lang)涌(yong)(yong)抗(kang)擾(rao)(rao)度(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)所(suo)依(yi)據的(de)(de)是(shi)(shi)(shi)IEC61000-4-5:2005，對(dui)應是(shi)(shi)(shi)GB/T17626.2:200X《電(dian)(dian)磁(ci)兼(jian)容 試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)和測(ce)量技(ji)術浪(lang)涌(yong)(yong)（沖擊(ji)）抗(kang)擾(rao)(rao)度(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)》。    浪(lang)涌(yong)(yong)（沖擊(ji)）抗(kang)擾(rao)(rao)度(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)就是(shi)(shi)(shi)模擬雷擊(ji)帶(dai)來的(de)(de)干(gan)擾(rao)(rao)影(ying)響，但需要指出(chu)的(de)(de)是(shi)(shi)(shi)，考(kao)核設(she)備電(dian)(dian)磁(ci)兼(jian)容性能的(de)(de)浪(lang)涌(yong)(yong)抗(kang)擾(rao)(rao)度(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)不同于考(kao)核設(she)備高壓絕緣能力的(de)(de)耐壓試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)，電(dian)(dian)磁(ci)兼(jian)容是(shi)(shi)(shi)什么意思，前者jj是(shi)(shi)(shi)模擬間接雷擊(ji)的(de)(de)影(ying)響（直接的(de)(de)雷擊(ji)設(she)備通常都(dou)無法承受）。1.2浪(lang)涌(yong)(yong)（沖擊(ji)）抗(kang)擾(rao)(rao)度(du)(du)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)目的(de)(de)    本標準(zhun)的(de)(de)目的(de)(de)是(shi)(shi)(shi)建(jian)立一(yi)個共同的(de)(de)基準(zhun)，以評(ping)(ping)價電(dian)(dian)氣和電(dian)(dian)子設(she)備在遭(zao)受浪(lang)涌(yong)(yong)(沖擊(ji))時的(de)(de)性能。本標準(zhun)規定了一(yi)個一(yi)致的(de)(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方法，以評(ping)(ping)定設(she)備或系統對(dui)規定現象的(de)(de)抗(kang)擾(rao)(rao)度(du)(du)。

靜電放電抗擾度試驗

標準依據

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

試驗目的

模擬(ni)操(cao)作人(ren)員或(huo)物體(ti)(ti)在接(jie)觸設(she)備時放(fang)(fang)電(dian)及人(ren)或(huo)物體(ti)(ti)對鄰(lin)近物體(ti)(ti)的放(fang)(fang)電(dian)，以考察被試設(she)備抵抗靜電(dian)放(fang)(fang)電(dian)干擾(rao)能力。前者是通過(guo)導體(ti)(ti)直接(jie)耦(ou)合，電(dian)磁兼容原理，屬(shu)于直接(jie)放(fang)(fang)電(dian)影響。 后(hou)者是通過(guo)空(kong)間輻射耦(ou)合，屬(shu)于間接(jie)放(fang)(fang)電(dian)影響。

試驗設備

靜電脈沖發生器

試驗等級（嚴酷度等級）

試驗原理

靜電放電電流的典型波形

靜電放電電流的典型波形參數

立式設備實驗室配置圖

試驗環境條件

環(huan)境溫度：15 ~ 35 ℃

相(xiang)對濕度(du)：30 ~ 60 %

大(da)氣壓力(li)：86~106 kPa

試驗的實施

接(jie)觸(chu)放電(dian)(dian)使(shi)用(yong)尖(jian)形放電(dian)(dian)電(dian)(dian)極，空氣放電(dian)(dian)使(shi)用(yong)圓(yuan)形放電(dian)(dian)電(dian)(dian)極；

優先采用接觸放電；

直接放(fang)電(dian)(dian)試驗(yan)，放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)極(ji)直接對被試設備(bei)進行放(fang)電(dian)(dian)試驗(yan)。試驗(yan)對象包(bao)括用戶(hu)在使用中(zhong)可能(neng)觸及到的任何地(di)方(fang)以及在帶電(dian)(dian)維(wei)護和(he)校正時可能(neng)觸及的地(di)方(fang)。如：金屬簧i片、機殼、機框、按(an) 鍵、螺絲(si)、指(zhi)示燈、開關等；

間接放電試驗(yan)可對水(shui)平(ping)耦(ou)合板和(he)垂直(zhi)耦(ou)合板進(jin)行放電；

試驗(yan)速(su)率(lv) 1 次/s，每個放電點至少在正負極性各(ge)放電10 次。

試驗結果判定

a. 在試驗過程中，設備的工(gong)作完全正常 設備的工(gong)作完全正常。

b. 在試驗中(zhong)，設備受(shou)干擾影響產生了暫時性的功(gong)能降(jiang)低，但撤消干擾后(hou)，設備的功(gong)能可

以自動恢復正常。

c. 在試驗中，電(dian)磁兼容(rong)，設備受干擾影響產生了暫時性的功能降低，但干擾撤消后，設備的功能需

要人工復位后方能恢(hui)復。

d. 在(zai)試(shi)驗(yan)中，受干擾(rao)的設備產生(sheng)了不可(ke)逆(ni)轉的損傷，包括元器(qi)件(jian)的損傷 、軟件(jian)或數據

丟失等。

對(dui)于情形a、b，判為(wei)合格。

對于情形c、d，判(pan)為不合格。