計(ji)量(liang)工作(zuo)的(de)重要性計(ji)量(liang)是(shi)一項(xiang)古(gu)老而又新興的(de)事業，它隨著(zhu)社會(hui)生產(chan)和(he)科(ke)學技術(shu)的(de)發展而發展。同時它在一定(ding)意義上也(ye)標(biao)(biao)志(zhi)著(zhu)一個(ge)現代化水平(ping)的(de)高低(di)。校準的(de)目的(de)是(shi)：給(gei)任(ren)何標(biao)(biao)尺(chi)標(biao)(biao)記(ji)賦值(zhi)或確(que)定(ding)其他特(te)性值(zhi)，給(gei)參考(kao)物(wu)質特(te)性賦值(zhi)，確(que)保測量(liang)器給(gei)出的(de)量(liang)值(zhi)準確(que)，實現溯源性。實驗室應根據儀器設備的(de)具體(ti)特(te)點(dian)，從經濟(ji)性、實用性、可靠性和(he)可行性等方面(mian)考(kao)慮(lv)相(xiang)應的(de)周期檢查方法。

由(you)于計(ji)(ji)量(liang)(liang)校(xiao)準(zhun)(zhun)證書只(zhi)是(shi)(shi)給出一組測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值，反(fan)映(ying)出儀(yi)(yi)器設備(bei)計(ji)(ji)量(liang)(liang)校(xiao)準(zhun)(zhun)的(de)(de)示值誤差，沒有作(zuo)出合(he)格(ge)與否的(de)(de)判定。儀(yi)(yi)器設備(bei)是(shi)(shi)否合(he)格(ge)；是(shi)(shi)否滿(man)足(zu)(zu)預(yu)期的(de)(de)使(shi)用要求；是(shi)(shi)否滿(man)足(zu)(zu)相應檢驗檢測(ce)(ce)(ce)技術的(de)(de)要求；出具(ju)(ju)的(de)(de)數據是(shi)(shi)否可(ke)靠，就要由(you)檢驗檢測(ce)(ce)(ce)機(ji)構(gou)根據所開展的(de)(de)檢驗檢測(ce)(ce)(ce)項目進行確(que)認。校(xiao)準(zhun)(zhun)的(de)(de)含義是(shi)(shi)：將(jiang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)器具(ju)(ju)所指示或(huo)代(dai)表的(de)(de)量(liang)(liang)值，按照校(xiao)準(zhun)(zhun)鏈，將(jiang)其(qi)溯源到標(biao)準(zhun)(zhun)所復現的(de)(de)量(liang)(liang)值。檢測(ce)(ce)(ce)和計(ji)(ji)量(liang)(liang)儀(yi)(yi)器檢測(ce)(ce)(ce)是(shi)(shi)兩個不同的(de)(de)概念，計(ji)(ji)量(liang)(liang)檢定機(ji)構(gou)，但是(shi)(shi)它們(men)密切(qie)相關。校(xiao)準(zhun)(zhun)過后(hou)的(de)(de)儀(yi)(yi)器比未校(xiao)準(zhun)(zhun)后(hou)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi)(yi)器（稱為標(biao)準(zhun)(zhun)儀(yi)(yi)器）具(ju)(ju)有更(geng)高(gao)的(de)(de)精度(du)。

校準的目(mu)的是(shi)：確(que)定(ding)示值誤(wu)差，并可確(que)定(ding)是(shi)否在(zai)預期的允差范圍之內(nei)；得(de)出標稱值偏(pian)差的報告值，可調整測(ce)(ce)量器具(ju)(ju)或對示值加(jia)以修正(zheng)。計量檢測(ce)(ce)工(gong)作(zuo)是(shi)一項科學而嚴謹的工(gong)作(zuo)，從檢定(ding)、校準原(yuan)始記錄到證書的出具(ju)(ju)，每(mei)一個環節(jie)都來不得(de)半點馬(ma)虎。真實有據、完整無缺(que)、準確(que)可靠是(shi)對原(yuan)始記錄基本(ben)的要(yao)求(qiu)。校準是(shi)承(cheng)認測(ce)(ce)量儀器的指示故障（包(bao)括(kuo)必要(yao)時承(cheng)認其他測(ce)(ce)量功(gong)能(neng)）的整個過(guo)程。在(zai)儀器維修過(guo)程中，儀器校準是(shi)一個非常(chang)常(chang)見的詞(ci)，在(zai)一般的次要(yao)缺(que)陷中，校準變得(de)尤為重要(yao)。