脈沖磁場抗擾度

江蘇威闊檢(jian)(jian)測(ce)技術(shu)服(fu)務(wu)有限公司（以(yi)下(xia)簡稱“VTL”）堅持“誠信(xin)、科學、準確、效率”的(de)(de)質(zhi)量方(fang)針，立足于電(dian)子電(dian)器、軌道(dao)交(jiao)通、汽車、新能源(yuan)等(deng)領域，構(gou)建了經驗(yan)豐富(fu)、技術(shu)硬(ying)的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)團隊，電(dian)磁兼容性(xing)檢(jian)(jian)測(ce)費用(yong)，為制造(zao)型企業提(ti)供(gong)良好的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)服(fu)務(wu)，衢州電(dian)磁兼容性(xing)檢(jian)(jian)測(ce)，同時在軌交(jiao)產(chan)品(pin)領域獲得了首批JRCC和CGC等(deng)城軌CURC認證資(zi)質(zhi)的(de)(de)機構(gou)認可。驗(yan)室(shi)下(xia)設(she)部(bu)門包括：檢(jian)(jian)測(ce)部(bu)、客服(fu)部(bu)、人事行政(zheng)部(bu)、銷售部(bu)及質(zhi)量部(bu)。試(shi)驗(yan)區設(she)有高分子材(cai)料實(shi)驗(yan)室(shi)、熱(re)學實(shi)驗(yan)室(shi)、阻(zu)燃實(shi)驗(yan)室(shi)、金屬材(cai)料實(shi)驗(yan)室(shi)、鹽霧實(shi)驗(yan)室(shi)、電(dian)池(chi)及零部(bu)件實(shi)驗(yan)室(shi)、環境與可靠性(xing)實(shi)驗(yan)室(shi)。目前擁(yong)有與檢(jian)(jian)測(ce)業務(wu)相適應的(de)(de)儀器設(she)備(bei)300余臺套。

射(she)頻電磁場輻射(she)抗(kang)擾性試驗

標準依據

IEC61000 - 4 - 3

EN61000-4-3

GB/T17626.3

試驗目的

評定電子(zi)通訊(xun)設備或系統受到電磁輻射騷擾時的(de)性(xing)能。

試驗設備

全電波暗室

功率放大器

射頻信號發生器

抗擾度天線

場強探頭

配套計算機及軟件

試驗等級（嚴酷度等級）

干擾電場強度的波形 (1kHz正弦波80%調幅 )

試驗的實施

用1kHz的正弦波對信號進行80％的幅度調制(zhi)后， 在80～1000MHz頻(pin)率范圍內(nei)進行掃頻(pin)測量，掃描步(bu)長為前(qian)一(yi)(yi)頻(pin)率的1 ％，這一(yi)(yi)部分都通過計算機及軟件(jian)控制(zhi)實(shi)現(xian)；

每(mei)一(yi)頻(pin)點上掃描停留時間不(bu)應短于受(shou)試設(she)備操(cao)作和(he)反(fan)應所需的時間，一(yi)般(ban)設(she)為1-3秒鐘，電磁兼(jian)容(rong)性檢測(ce)報(bao)價(jia)，如果對產品有特(te)別要求，可以延(yan)長停留時間；

受試設備應在發射天線的水平和垂直極化下進行試驗 。

試驗結果判定

對于情形a，判(pan)為合格。

對于情 形b、c、d，判為不(bu)合格。

測量判定方式

由(you)于(yu)(yu)準(zhun)峰(feng)值測(ce)(ce)(ce)(ce)量占用(yong)(yong)(yong)的(de)時間比(bi)較長，測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)效率(lv)比(bi)較低(di)，作為改進，實(shi)用(yong)(yong)(yong)中常用(yong)(yong)(yong)峰(feng)值檢(jian)波作第—輪測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)，因為三種檢(jian)波當中，用(yong)(yong)(yong)峰(feng)值檢(jian)波得到的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)值應當zui高，如(ru)果(guo)(guo)首輪測(ce)(ce)(ce)(ce)值比(bi)標準(zhun)給定(ding)的(de)準(zhun)峰(feng)值和(he)(he)平均(jun)(jun)值都要來得低(di)的(de)話(hua)，電磁兼(jian)容性(xing)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)機構，則(ze)以后的(de)試(shi)驗(yan)不用(yong)(yong)(yong)進行，便能判定(ding)試(shi)驗(yan)己經(jing)通過(guo)。 如(ru)果(guo)(guo)峰(feng)值測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)中有部(bu)分(fen)測(ce)(ce)(ce)(ce)值高于(yu)(yu)標準(zhun)規定(ding)準(zhun)峰(feng)值和(he)(he)平均(jun)(jun)值，則(ze)就取(qu)超過(guo)部(bu)分(fen)的(de)頻(pin)段補做準(zhun)峰(feng)值和(he)(he)平均(jun)(jun)值的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)，即使這(zhe)樣(yang)，整個(ge)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)時間也短于(yu)(yu)全部(bu)用(yong)(yong)(yong)準(zhun)峰(feng)值和(he)(he)平均(jun)(jun)值檢(jian)波的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)。