fct功(gong)(gong)能測試(shi)(shi)涉(she)及模擬、數(shu)字(zi)、存儲器、RF和電源電路(lu)，通(tong)常要(yao)用不同的測試(shi)(shi)策略。測試(shi)(shi)包括大量實際重要(yao)功(gong)(gong)能通(tong)路(lu)及結構驗證(確定沒有硬(ying)件錯誤)，以彌補前面測試(shi)(shi)過程(cheng)遺漏的部分。這(zhe)需(xu)要(yao)將大量模擬/數(shu)字(zi)激勵不斷加到(dao)被(bei)測單元(UUT)上(shang)，同時監測同樣(yang)多數(shu)量的模擬/數(shu)字(zi)響(xiang)應，并完全控制其執(zhi)行過程(cheng)。fct功(gong)(gong)能測試(shi)(shi)是在終系(xi)統測試(shi)(shi)或集成測試(shi)(shi)之(zhi)前，可用于(yu)線路(lu)板或模塊。

FCT可以分為(wei)：嵌入式(shi)(shi)MCU控制(zhi)(zhi)方(fang)式(shi)(shi)、基(ji)(ji)于(yu)(yu)PLC控制(zhi)(zhi)方(fang)式(shi)(shi)、基(ji)(ji)于(yu)(yu)PC控制(zhi)(zhi)方(fang)式(shi)(shi)等(deng)。嵌入式(shi)(shi)MCU的特點(dian)是執行(xing)速度(du)快、操作(zuo)簡(jian)單，但這種(zhong)實現方(fang)式(shi)(shi)的性(xing)較強(qiang)(qiang)不(bu)容易擴展。基(ji)(ji)于(yu)(yu)PLC的控制(zhi)(zhi)方(fang)式(shi)(shi)，其重點(dian)在于(yu)(yu)控制(zhi)(zhi)部分，測量(liang)功能相對(dui)較弱(ruo)，比較適合以控制(zhi)(zhi)為(wei)主(zhu)的場(chang)合。基(ji)(ji)于(yu)(yu)PC的控制(zhi)(zhi)方(fang)式(shi)(shi)目前使用(yong)較為(wei)廣泛，它(ta)具有(you)PC機(ji)價格低廉、數據處理(li)功能強(qiang)(qiang)大、測試程序(xu)開(kai)發工具豐富(fu)等(deng)優(you)點(dian)。

自(zi)動化FCT測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)設(she)(she)備(bei)(bei)大都(dou)基于開放式(shi)硬(ying)、軟件體系(xi)結構(gou)設(she)(she)計，FCT測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)系(xi)統(tong)(tong)，能夠靈(ling)活(huo)地(di)擴展硬(ying)件，快捷方便的(de)(de)(de)建立測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)程序(xu)；一(yi)般可以做(zuo)到支持多種(zhong)儀器，可以靈(ling)活(huo)的(de)(de)(de)按(an)需進行配置；而且(qie)要具有豐富(fu)的(de)(de)(de)基本測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)項目，較大可能地(di)為用戶(hu)提供(gong)通用、靈(ling)活(huo)、規范(fan)的(de)(de)(de)解(jie)決方案(an)。FCT測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)系(xi)統(tong)(tong)廠(chang)家(jia)，FCT測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)系(xi)統(tong)(tong)分類，FCT測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)系(xi)統(tong)(tong)價格各類電子產品(pin)的(de)(de)(de)實裝電路板(ban)（PCBA）在批(pi)量生產過(guo)程中，設(she)(she)備(bei)(bei)狀態和人為操作因素都(dou)可能引入(ru)缺陷，因此要求(qiu)在生產中加入(ru)各種(zhong)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)設(she)(she)備(bei)(bei)和測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)工具，以保證所有出廠(chang)的(de)(de)(de)實裝電路板(ban)符合設(she)(she)計的(de)(de)(de)規格和參數。