射頻電磁場(chang)輻(fu)射抗(kang)擾性(xing)試驗

標準依據

IEC61000 - 4 - 3

EN61000-4-3

GB/T17626.3

試驗目的

評定電子(zi)通訊設(she)備或(huo)系統(tong)受到電磁輻射騷擾時的(de)性能(neng)。

試驗設備

全電波暗室

功率放大器

射頻信號發生器

抗擾度天線

場強探頭

配套計算機及軟件

試驗等級（嚴酷度等級）

干擾電場強度的波形 (1kHz正弦波80%調幅 )

試驗的實施

用1kHz的正弦波對信號進行80％的幅度調(diao)制(zhi)后， 在80～1000MHz頻(pin)率(lv)范圍內進行掃(sao)頻(pin)測量(liang)，泰州(zhou)電磁兼容，掃(sao)描步長為(wei)前一頻(pin)率(lv)的1 ％，這一部分都通過計算機及(ji)軟件控制(zhi)實(shi)現；

每一頻點上掃描停(ting)留時(shi)間(jian)不應短于(yu)受(shou)試(shi)設備操作和反(fan)應所(suo)需的時(shi)間(jian)，一般(ban)設為1-3秒鐘，如果對產品有特別要求(qiu)，可以延(yan)長停(ting)留時(shi)間(jian)；

受試設備應在發射天線的水平和垂直極化下進行試驗 。

試驗結果判定

對于情形a，判為(wei)合格。

對于(yu)情 形(xing)b、c、d，判(pan)為(wei)不合(he)格。

測量判定方式

由于準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值測量占用(yong)的(de)(de)(de)時間(jian)比(bi)較(jiao)(jiao)長(chang)，測試(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)效率比(bi)較(jiao)(jiao)低，作為改進(jin)，電磁(ci)兼(jian)容(rong)性標準(zhun)(zhun)(zhun)，實用(yong)中常用(yong)峰(feng)(feng)值檢波(bo)作第—輪測試(shi)(shi)(shi)，電磁(ci)兼(jian)容(rong)測試(shi)(shi)(shi)系統(tong)，因為三(san)種檢波(bo)當(dang)中，用(yong)峰(feng)(feng)值檢波(bo)得到的(de)(de)(de)測值應當(dang)zui高，如果首輪測值比(bi)標準(zhun)(zhun)(zhun)給定(ding)的(de)(de)(de)準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值和(he)平(ping)均(jun)值都要來得低的(de)(de)(de)話，則以后的(de)(de)(de)試(shi)(shi)(shi)驗不(bu)用(yong)進(jin)行(xing)，便能判(pan)定(ding)試(shi)(shi)(shi)驗己經通過。 如果峰(feng)(feng)值測試(shi)(shi)(shi)中有部分測值高于標準(zhun)(zhun)(zhun)規定(ding)準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值和(he)平(ping)均(jun)值，則就取超過部分的(de)(de)(de)頻段(duan)補做準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值和(he)平(ping)均(jun)值的(de)(de)(de)測試(shi)(shi)(shi)，即使這(zhe)樣，電磁(ci)兼(jian)容(rong)原理技術(shu)及應用(yong)，整個(ge)測試(shi)(shi)(shi)時間(jian)也(ye)短于全部用(yong)準(zhun)(zhun)(zhun)峰(feng)(feng)值和(he)平(ping)均(jun)值檢波(bo)的(de)(de)(de)測試(shi)(shi)(shi)。

靜電放電抗擾度試驗

標準依據

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

試驗目的

模擬操作人員或物(wu)(wu)體在接(jie)觸設備時放(fang)(fang)電及人或物(wu)(wu)體對鄰近(jin)物(wu)(wu)體的(de)放(fang)(fang)電，以考察被試(shi)設備抵抗靜電放(fang)(fang)電干擾能力(li)。前者是通(tong)過導體直(zhi)接(jie)耦(ou)合，屬(shu)于直(zhi)接(jie)放(fang)(fang)電影響。 后者是通(tong)過空間輻(fu)射耦(ou)合，屬(shu)于間接(jie)放(fang)(fang)電影響。

試驗設備

靜電脈沖發生器

試驗等級（嚴酷度等級）

試驗原理

靜電放電電流的典型波形

靜電放電電流的典型波形參數

立式設備實驗室配置圖

試驗環境條件

環境溫度(du)：15 ~ 35 ℃

相對濕(shi)度：30 ~ 60 %

大氣壓力：86~106 kPa

試驗的實施

接觸放電(dian)使(shi)用尖形放電(dian)電(dian)極，空(kong)氣放電(dian)使(shi)用圓形放電(dian)電(dian)極；

優先采用接觸放電；

直(zhi)接(jie)放(fang)電(dian)(dian)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)，放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)極直(zhi)接(jie)對被試(shi)(shi)設備(bei)進行放(fang)電(dian)(dian)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)。試(shi)(shi)驗(yan)(yan)對象包括用戶(hu)在使用中可能觸及到的(de)任何地(di)方(fang)以及在帶電(dian)(dian)維(wei)護(hu)和校正時可能觸及的(de)地(di)方(fang)。如：金屬簧i片、機(ji)殼、機(ji)框、按 鍵、螺絲(si)、指示燈、開(kai)關等；

間(jian)接放電試(shi)驗可對水平耦合板和垂直(zhi)耦合板進行放電；

試驗速率 1 次(ci)/s，每個放電(dian)點至少在正負極性各(ge)放電(dian)10 次(ci)。

試驗結果判定

a. 在(zai)試驗過程中，設(she)備的工作完全正常(chang) 設(she)備的工作完全正常(chang)。

b. 在試驗(yan)中，設備受(shou)干擾影響產生了暫時性的功能降低，但撤消(xiao)干擾后，設備的功能可

以自動恢復正常。

c. 在試驗中，設備受(shou)干擾影(ying)響產生了暫(zan)時性(xing)的功能降低，但干擾撤消后，設備的功能需(xu)

要人工復(fu)位后方(fang)能恢復(fu)。

d. 在試(shi)驗中(zhong)，受(shou)干擾的(de)設(she)備產生了不(bu)可逆(ni)轉的(de)損(sun)傷(shang)，包括(kuo)元器(qi)件(jian)的(de)損(sun)傷(shang) 、軟件(jian)或數據

丟失等。

對于情形(xing)a、b，判為合格。

對于情形c、d，判為不合格。