機器視覺光(guang)源時應思索哪些特性：

1、亮(liang)度：在(zai)兩(liang)種光源當選擇時，超佳的(de)(de)選擇是更(geng)亮(liang)的(de)(de)那個。

當光(guang)(guang)源不(bu)夠(gou)(gou)(gou)亮時，可(ke)能有(you)三(san)(san)種不(bu)好的(de)(de)(de)狀況會(hui)呈(cheng)現。一，相機的(de)(de)(de)信噪比不(bu)夠(gou)(gou)(gou);由于光(guang)(guang)源的(de)(de)(de)亮度不(bu)夠(gou)(gou)(gou)，圖(tu)像的(de)(de)(de)比照度必然(ran)(ran)不(bu)夠(gou)(gou)(gou)，在圖(tu)像上呈(cheng)現噪聲的(de)(de)(de)可(ke)能性也隨即(ji)增(zeng)大(da)。二，光(guang)(guang)源的(de)(de)(de)亮度不(bu)夠(gou)(gou)(gou)，必然(ran)(ran)要加大(da)光(guang)(guang)圈，從而(er)減小(xiao)了景深。三(san)(san)，當光(guang)(guang)源的(de)(de)(de)亮度不(bu)夠(gou)(gou)(gou)的(de)(de)(de)時分，自然(ran)(ran)光(guang)(guang)等隨機光(guang)(guang)對系(xi)統的(de)(de)(de)影響會(hui)很大(da)。

2、光源平均(jun)性：不平均(jun)的光會形成(cheng)不平均(jun)的反射。平均(jun)關(guan)系(xi)到三個(ge)方面(mian)。

一(yi)，關(guan)于視野，在攝像(xiang)頭視野范圍局部應該是(shi)平均的(de)。簡單的(de)說，圖像(xiang)中暗的(de)區(qu)域就是(shi)短少反(fan)射光，而(er)亮點(dian)就是(shi)此處反(fan)射太強了。

二，不平均(jun)的光(guang)會使視野范圍(wei)內(nei)局部區域的光(guang)比其他區域多。從而形成物(wu)體(ti)外表反射不平均(jun)(假定物(wu)體(ti)外表的對光(guang)的反射是相(xiang)同(tong)的)。

三，高(gao)亮線掃同(tong)(tong)軸光源(yuan)供應，平均的光源(yuan)會補(bu)償物體外表的角(jiao)度變(bian)化，即便物體外表的幾何外形不同(tong)(tong)，光源(yuan)在(zai)各局部的反射也(ye)是平均的。

同軸光源的原理：

在(zai)同(tong)軸(zhou)燈里面裝置一(yi)塊45度(du)半(ban)(ban)(ban)(ban)透半(ban)(ban)(ban)(ban)反玻璃(li)。將高亮(liang)度(du)，高密度(du)的(de)LED陣列排列在(zai)線(xian)路板上，構(gou)成一(yi)個面光源(yuan)，面光源(yuan)發出的(de)光線(xian)經過透鏡之后，映照(zhao)到半(ban)(ban)(ban)(ban)透半(ban)(ban)(ban)(ban)反玻璃(li)上，光線(xian)先經過全反射(she)(she)垂直照(zhao)到被測物(wu)體(ti)上，從(cong)被測物(wu)體(ti)上反射(she)(she)的(de)光線(xian)垂直向上穿(chuan)過半(ban)(ban)(ban)(ban)透半(ban)(ban)(ban)(ban)反玻璃(li)，進(jin)入(ru)攝(she)(she)像(xiang)(xiang)(xiang)頭(tou)。這樣就既消弭了(le)反光，又防止了(le)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)中產生攝(she)(she)像(xiang)(xiang)(xiang)頭(tou)的(de)倒影。物(wu)體(ti)所呈現出明晰的(de)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)，南(nan)通高亮(liang)線(xian)掃(sao)(sao)同(tong)軸(zhou)光源(yuan)，并被相機捕(bu)獲(huo)，高亮(liang)線(xian)掃(sao)(sao)同(tong)軸(zhou)光源(yuan)價格，用于進(jin)一(yi)步的(de)剖析(xi)和處置。

環形光(guang)(guang)源(yuan)用于(yu)檢測IC芯片上(shang)的(de)印(yin)刷字(zi)符。LED陣(zhen)列(lie)成(cheng)圓錐狀以(yi)斜角(jiao)照射(she)在被測物(wu)體(ti)表面，高亮(liang)線掃(sao)同軸光(guang)(guang)源(yuan)報價(jia)，通過漫反(fan)射(she)方(fang)式照亮(liang)一(yi)小片區(qu)域，工作(zuo)距離在10-15MM時，該光(guang)(guang)源(yuan)可以(yi)突出(chu)顯示(shi)被測物(wu)體(ti)邊(bian)緣(yuan)和高度的(de)變化，突出(chu)原本難以(yi)看清的(de)部分，是邊(bian)緣(yuan)檢測、金屬表面的(de)刻字(zi)和損(sun)傷檢測的(de)理想選擇(ze)。

蘇州市眾優(you)智能(neng)科技有限公(gong)司（簡稱：眾優(you)智能(neng)），是一家專注于機(ji)(ji)(ji)器視(shi)覺LED光(guang)源研發、生產，加工與銷售、CCD、CMOS工業級(ji)相機(ji)(ji)(ji)、工業鏡頭、機(ji)(ji)(ji)器視(shi)覺系統集成的(de)高科技企(qi)業。公(gong)司立足于機(ji)(ji)(ji)器視(shi)覺和工業自動化領域，全力打造(zao)機(ji)(ji)(ji)器視(shi)覺高i端產品及方(fang)(fang)案，為客戶提(ti)供一條龍機(ji)(ji)(ji)器視(shi)覺解決方(fang)(fang)案。