超聲波測厚儀

影響測量精度的原因

 (1) 覆蓋層(ceng)厚(hou)度(du)大于25μm時(shi)，其誤差與覆蓋層(ceng)厚(hou)度(du)近似成正比(bi)；   

 (2) 基體金(jin)屬的電導率對測量有(you)影響，它(ta)與基體金(jin)屬材(cai)料成分及熱(re)處理方法有(you)關；  

 (3) 任何一種測厚儀都要求(qiu)基體(ti)金(jin)(jin)屬有一個(ge)臨界(jie)厚度，只有大于這個(ge)厚度，測量(liang)才不會受基體(ti)金(jin)(jin)屬厚度的(de)影(ying)響；  

 (4) 渦(wo)流測(ce)厚儀(yi)對試樣(yang)(yang)測(ce)定存(cun)在邊緣(yuan)效應，即對靠近試樣(yang)(yang)樣(yang)(yang)邊緣(yuan)或(huo)內轉角處(chu)的(de)測(ce)量是不可靠的(de)；  

 (5) 試(shi)樣的(de)曲(qu)率對測(ce)(ce)量(liang)(liang)有(you)影(ying)響(xiang)，這種影(ying)響(xiang)將隨曲(qu)率半徑的(de)減小明顯地(di)增大；  基體金(jin)屬(shu)和覆蓋層(ceng)的(de)表面粗糙度影(ying)響(xiang)測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)精度，粗糙度增大，4MM探頭高(gao)精度測(ce)(ce)厚儀技術支持，影(ying)響(xiang)增大；。

超聲波測厚儀

影響因素

被測(ce)(ce)物背面有(you)大量腐蝕(shi)坑。由于被測(ce)(ce)物另一面有(you)銹斑(ban)、腐蝕(shi)凹坑，高(gao)精度(du)測(ce)(ce)厚儀技術支持，造成(cheng)聲波衰減，導致(zhi)讀數(shu)無規則變(bian)化，在特別情況下甚(shen)至無讀數(shu)。 

被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)（如管道）內有沉積(ji)物(wu)，當沉積(ji)物(wu)與(yu)工件聲阻抗相(xiang)差不大(da)時，彩(cai)屏高精(jing)度測(ce)厚(hou)(hou)儀技術支持，測(ce)厚(hou)(hou)儀顯(xian)示值為(wei)壁厚(hou)(hou)加沉積(ji)物(wu)厚(hou)(hou)度。 

當材料內部存(cun)在(zai)缺(que)陷(xian)（如夾雜、夾層等）時，顯示值約為公稱厚(hou)度的70%，此時可用(yong)超聲波探傷儀進(jin)一(yi)步進(jin)行缺(que)陷(xian)檢(jian)測。

超聲波測厚儀

關于超聲(sheng)波測(ce)厚儀的詳細信息：

* 存儲容量(liang)：一般來說，超聲波測厚(hou)儀的存儲容量(liang)分(fen)為6組，每組可以存儲100個測量(liang)點，共有600個測量(liang)點。 

* 外形(xing)尺寸(cun)和重(zhong)(zhong)量：超聲波測(ce)厚儀(yi)的外形(xing)尺寸(cun)和重(zhong)(zhong)量因品牌和型號而異，一(yi)般而言(yan)，其外形(xing)尺寸(cun)為(wei)146mm*81mm*30mm，重(zhong)(zhong)量在(zai)300g左右（含電池）。 

* 電源：超聲波測厚(hou)儀一般使用(yong)兩節(jie)五號（AA）電池作為電源。 

* 可(ke)選探頭(tou)(tou)：不同(tong)型(xing)號的(de)(de)超(chao)聲波(bo)測厚儀可(ke)能配備(bei)不同(tong)的(de)(de)探頭(tou)(tou)，以適(shi)應不同(tong)的(de)(de)測量(liang)需求。例如，某些型(xing)號可(ke)能配備(bei)PT-08、PT-06、PT-04、PT-10、ZT-12、GT-12、E-E10等探頭(tou)(tou)。  

總的來說，超聲波測厚儀是一(yi)種非常實用的工(gong)具，可(ke)以用于各種材料(liao)的厚度(du)測量(liang)，而且(qie)具有高(gao)精度(du)的特(te)點。