射頻電磁場輻射抗擾性試驗

標準依據

IEC61000 - 4 - 3

EN61000-4-3

GB/T17626.3

試驗目的

評定電子通訊(xun)設(she)備或系統(tong)受到電磁輻射(she)騷擾(rao)時的性能。

試驗設備

全電波暗室

功率放大器

射頻信號發生器

抗擾度天線

場強探頭

配套計算機及軟件

試驗等級（嚴酷度等級）

干擾電場強度的波形 (1kHz正弦波80%調幅 )

試驗的實施

用(yong)1kHz的正弦波對信號進行80％的幅度(du)調制后， 在80～1000MHz頻率(lv)范圍內(nei)進行掃頻測量，掃描步長為前(qian)一頻率(lv)的1 ％，這一部分都通(tong)過計(ji)算機及軟件(jian)控制實現(xian)；

每一(yi)頻點上掃描停(ting)留(liu)時間(jian)(jian)不(bu)應短(duan)于受試(shi)設(she)備操作(zuo)和反應所需的時間(jian)(jian)，一(yi)般(ban)設(she)為1-3秒(miao)鐘，如果(guo)對產品有特別(bie)要(yao)求，可以(yi)延長停(ting)留(liu)時間(jian)(jian)；

受試設備應在發射天線的水平和垂直極化下進行試驗 。

試驗結果判定

對于情形a，判為(wei)合(he)格。

對(dui)于情 形(xing)b、c、d，判為(wei)不合格。

脈沖磁場抗擾度

江蘇(su)威闊檢(jian)測(ce)技術服務有限公司（以(yi)下簡稱“VTL”）堅持“誠信、科學、準確、效(xiao)率”的(de)質(zhi)量方針(zhen)，立足于電子電器、軌道交通(tong)、汽車、新能源(yuan)等領域(yu)，構(gou)建了經驗豐富、技術硬(ying)的(de)檢(jian)測(ce)團(tuan)隊，為制造型(xing)企業提供良好的(de)檢(jian)測(ce)服務，同時(shi)在軌交產品(pin)領域(yu)獲得了首(shou)批JRCC和(he)CGC等城軌CURC認(ren)證資質(zhi)的(de)機構(gou)認(ren)可。驗室下設部(bu)門(men)包括(kuo)：檢(jian)測(ce)部(bu)、客服部(bu)、人事行政部(bu)、銷售部(bu)及質(zhi)量部(bu)。試驗區設有高(gao)分子材料實(shi)(shi)驗室、熱(re)學實(shi)(shi)驗室、阻(zu)燃實(shi)(shi)驗室、金屬(shu)材料實(shi)(shi)驗室、鹽霧實(shi)(shi)驗室、電池及零部(bu)件實(shi)(shi)驗室、環境(jing)與可靠性(xing)實(shi)(shi)驗室。目前擁有與檢(jian)測(ce)業務相適應的(de)儀器設備300余臺套(tao)。

靜電放電抗擾度試驗

標準依據

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

試驗目的

模擬操作(zuo)人(ren)員或物體在接觸設備時(shi)放(fang)電(dian)及人(ren)或物體對(dui)鄰近(jin)物體的放(fang)電(dian)，以考察被試(shi)設備抵抗靜電(dian)放(fang)電(dian)干(gan)擾能力。前者是(shi)(shi)通過(guo)導體直(zhi)接耦合(he)，屬于(yu)直(zhi)接放(fang)電(dian)影響。 后者是(shi)(shi)通過(guo)空間輻射耦合(he)，屬于(yu)間接放(fang)電(dian)影響。

試驗設備

靜電脈沖發生器

試驗等級（嚴酷度等級）

試驗原理

靜電放電電流的典型波形

靜電放電電流的典型波形參數

立式設備實驗室配置圖

試驗環境條件

環境溫度：15 ~ 35 ℃

相對(dui)濕度：30 ~ 60 %

大氣壓力(li)：86~106 kPa

試驗的實施

接觸放電(dian)(dian)使用尖形(xing)放電(dian)(dian)電(dian)(dian)極，南京電(dian)(dian)磁兼容，空氣放電(dian)(dian)使用圓形(xing)放電(dian)(dian)電(dian)(dian)極；

優先采用接觸放電；

直接(jie)放電(dian)試(shi)驗，電(dian)磁(ci)兼(jian)容行(xing)業，放電(dian)電(dian)極直接(jie)對(dui)被試(shi)設備進(jin)行(xing)放電(dian)試(shi)驗。試(shi)驗對(dui)象包(bao)括用戶在(zai)使用中可(ke)(ke)能觸及到的(de)任何地方以及在(zai)帶(dai)電(dian)維護和校正(zheng)時可(ke)(ke)能觸及的(de)地方。如：金屬(shu)簧i片、機(ji)殼、機(ji)框(kuang)、按 鍵、螺絲(si)、指示燈、開關等(deng)；

間接放電試驗可對(dui)水平耦合(he)板和垂直耦合(he)板進行放電；

試驗(yan)速率(lv) 1 次(ci)/s，電(dian)(dian)磁兼容(rong)項目，每個放電(dian)(dian)點至少在正(zheng)負極性各放電(dian)(dian)10 次(ci)。

試驗結果判定

a. 在試驗過程(cheng)中，設(she)備的(de)工(gong)作完全(quan)正常(chang) 設(she)備的(de)工(gong)作完全(quan)正常(chang)。

b. 在試(shi)驗中(zhong)，設備(bei)受干(gan)擾影響產生了暫(zan)時性的功能(neng)(neng)降低，但撤消干(gan)擾后，設備(bei)的功能(neng)(neng)可

以自動恢復正常。

c. 在試驗中，設備(bei)受(shou)干擾影響產生了暫時性(xing)的(de)功能降低，但干擾撤消(xiao)后，設備(bei)的(de)功能需

要人工復位后方能恢復。

d. 在試(shi)驗中，受(shou)干(gan)擾的(de)設備產生了不(bu)可逆轉的(de)損傷(shang)，包括(kuo)元器件的(de)損傷(shang) 、軟(ruan)件或數據

丟失等。

對于情形(xing)a、b，判(pan)為(wei)合格。

對(dui)于情形c、d，判為不合格(ge)。