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英(ying)飛思XRF鍍層測(ce)厚儀(yi)優勢
>微光(guang)斑X 射線(xian)聚焦光(guang)學(xue)器件
通過(guo)將高(gao)亮度一次 X 射線照(zhao)射到0.02mm的區(qu)(qu)域,微區(qu)(qu)膜(mo)厚儀EDX-8000T Plus,實現高(gao)精(jing)度測量。
>硅漂移(yi)探測器 (SDD) 作(zuo)為檢測系統(tong)
高計數率硅(gui)漂(piao)移(yi)檢測(ce)器可實現高精度測(ce)量(liang)。
>高(gao)分辨率樣品觀測系統
的點位(wei)測(ce)量功能有助于提高(gao)測(ce)量精度。
>全系列標配(pei)薄膜(mo)FP無標樣分析(xi)法(fa)軟件,可同時對(dui)多(duo)層鍍層及全金(jin)鍍層厚(hou)度和(he)成分進(jin)行(xing)測量
配合用(yong)戶友好的軟件界(jie)面,可以輕(qing)松地進行日常測(ce)量。
蘇州英(ying)飛思科學儀(yi)器(qi)有限公司,英(ying)文名字(zi):Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
公司logo和英文縮(suo)寫為ESI。
英飛思ESI坐(zuo)落于(yu)美麗(li)而現代(dai)的蘇州工業園。
XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內完成。
溫馨提示:以上是關于微區膜厚儀EDX-8000T Plus-英飛思科學的詳細介紹,產品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產品信息感興趣可以或者 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guan)的產品!
蘇州英飛(fei)思(si)科(ke)學儀器有(you)限(xian)公司
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