ICP-MS測定純(chun)鋅(xin)中的微量元素

電(dian)感耦合等離(li)子體質譜法是檢測(ce)復雜體系中微量(liang)和痕量(liang)元素的一種(zhong)分析技(ji)術，具有靈敏度高、檢測(ce)限低(di)、

精密度好、線性范(fan)圍寬及(ji)多(duo)元素同(tong)時測定等特性。本文主要研究了 ICP-MS法測定純鋅樣(yang)品中鐵、銅、鎘、

銻、鉛、錫等(deng)微量元素。本采(cai)用(yong)溶解樣品，定容分析，本方法具有樣品處理簡單，容易操作， 測定準確度(du)(du)高，精密度(du)(du)好(hao)，檢出限低等(deng)優(you)點(dian)。

鋅(xin)因為具(ju)有(you)優良的抗大氣腐蝕(shi)(shi)性能，ICPMS質譜(pu)儀價(jia)格，所(suo)以被(bei)主要用(yong)于鋼材(cai)(cai)(cai)和鋼結構(gou)件的表面鍍層（如鍍鋅(xin)板(ban)），廣泛(fan)用(yong)于汽車、 建筑(zhu)、船舶、輕(qing)工等行業，純鋅(xin)有(you)較好的機械(xie)(xie)性能和耐蝕(shi)(shi)性能，可(ke)以加工成板(ban)材(cai)(cai)(cai)、箔(bo)材(cai)(cai)(cai)、線材(cai)(cai)(cai)形式用(yong)于印刷、機械(xie)(xie)、

化工、電池、儀表等(deng)工業部門，可配制合金、作合金元素等(deng)。純(chun)度為(wei)98.7%?99.99%的鋅(xin)(xin)，常含有(you)鉛、鐵、鎘(ge)、銅、 、銻、錫(xi)等(deng)雜質(zhi)，而錫(xi)、等(deng)為(wei)有(you)害雜質(zhi)。隨著材(cai)料(liao)科(ke)學(xue)對純(chun)鋅(xin)(xin)的純(chun)凈度越(yue)來越(yue)高的要(yao)求，使材(cai)料(liao)的痕量分析

領域面臨新的挑(tiao)戰。其中越來越多的元(yuan)(yuan)素，包括一些并不典型且含量極(ji)低的元(yuan)(yuan)素，必須采用高靈敏(min)度的檢測方法， 才能對其含量提供準確可靠的數據。ICP-MS分析技術是(shi)分析痕量元(yuan)(yuan)素有(you)力的技術，該(gai)技術具有(you)譜圖簡單(dan)，檢出限低、 線(xian)性(xing)動(dong)態范(fan)圍寬、快(kuai)速的多元(yuan)(yuan)素分析等特點。但在(zai)分析鋼鐵(tie)、鋅合金等復雜樣品(pin)時，由于大量基體的存(cun)在(zai)以及由

于(yu)引入溶劑而產生的大量多原子離子干(gan)擾，使ICP-MS的應(ying)用(yong)受到限制。本(ben)文主要研究(jiu)ICP-MS測定純(chun)鋅中(zhong)(zhong)痕量元 素的干(gan)擾情況及校正方法、基體效應(ying)的影響等，將所建立的方法應(ying)用(yong)于(yu)純(chun)鋅中(zhong)(zhong)痕量元素的分析，取得了滿意的結果。

如果 ICP-MS 質譜(pu)儀的靈敏度低，可能有以下一些原因和解決方(fang)法???

樣品制備問題：確(que)保樣品的制備方法(fa)正確(que)，避免(mian)污(wu)染或損失。

儀(yi)器(qi)校(xiao)準：定(ding)期進(jin)行(xing)儀(yi)器(qi)的(de)校(xiao)準和質(zhi)量校(xiao)正，確保儀(yi)器(qi)的(de)準確性。

離子源條件(jian)：優化(hua)離子源的參數(shu)，如(ru)射頻功率、氣體流量等，以提高離子化(hua)效率。

接(jie)口(kou)(kou)和錐(zhui)體(ti)維護(hu)：定期清潔(jie)和維護(hu)接(jie)口(kou)(kou)和錐(zhui)體(ti)，以減(jian)少離子傳(chuan)輸的損(sun)失。

檢(jian)測器性能(neng)：檢(jian)查檢(jian)測器的狀(zhuang)態，確保其正常(chang)工作(zuo)。

質(zhi)(zhi)譜干擾：排除可能(neng)存在的質(zhi)(zhi)譜干擾，如基質(zhi)(zhi)效應、多原子(zi)(zi)離子(zi)(zi)等。

氣體質量(liang)：使用高純度的氣體，以避免氣體不純對靈敏度的影(ying)響。

樣品提升率(lv)：檢查(cha)樣品的(de)提升率(lv)是否合適，過低(di)的(de)提升率(lv)可能導(dao)致(zhi)靈敏度降低(di)。

儀器(qi)老化或(huo)故(gu)障(zhang)：如果儀器(qi)使用時間較(jiao)長或(huo)出現故(gu)障(zhang)，江西(xi)ICPMS質譜儀，可(ke)能需(xu)要進(jin)(jin)行維修或(huo)部(bu)件更換。要解決靈敏(min)度低的問題，可(ke)能需(xu)要綜合考慮以(yi)上因素(su)，并進(jin)(jin)行逐步排(pai)查和優化。

3. 如何進行儀器的(de)校準和質量校正？

進行 ICP-MS 質譜儀的(de)校準(zhun)(zhun)和(he)質量校正(zheng)可(ke)以確(que)保儀器(qi)的(de)準(zhun)(zhun)確(que)性和(he)可(ke)靠性，具體步(bu)驟(zou)如下(xia)???

硬件校準：

進行電子學參數(shu)的(de)校準，包(bao)括離(li)子能量(liang)、離(li)子束流、放大器增益等。

進行離子光(guang)學(xue)系(xi)統的校準(zhun)，包括離子傳輸效率(lv)、離子聚焦等。

元素校準：

使(shi)用標準溶液進行元(yuan)素的(de)校(xiao)準，可以選擇物質(zhi)或商業標準物質(zhi)。

根據標準(zhun)溶液的濃度和(he)質(zhi)譜(pu)儀的響應信號(hao)，建立元素的校準(zhun)曲線。

根據校準(zhun)曲(qu)線，對未知樣(yang)品進(jin)行濃度的測量和(he)計算(suan)。

質量校正：

進行(xing)質量的(de)校正(zheng)，以消(xiao)除同位素的(de)影(ying)響(xiang)。

進行質量偏差的(de)校正，以保(bao)證不同質量數的(de)離(li)子有(you)相同的(de)響應信號。

在校(xiao)準和質(zhi)量校(xiao)正過程(cheng)中，需要(yao)注意以(yi)下幾(ji)點???

選擇合適的標準(zhun)溶液(ye)和(he)校準(zhun)方法(fa)，以確保校準(zhun)結果(guo)的準(zhun)確性。

定期進行校(xiao)準(zhun)和質量校(xiao)正(zheng)，以保證(zheng)儀器的準(zhun)確性(xing)和穩(wen)定性(xing)。

記錄校(xiao)準和質量校(xiao)正(zheng)的結果，以便(bian)后續分(fen)析時參(can)考。

需要注意的(de)是，不同的(de)儀器(qi)型號(hao)和(he)分析要求可能會對校(xiao)準和(he)質量校(xiao)正有具體的(de)要求，因此好參考儀器(qi)的(de)操(cao)作手冊(ce)和(he)制(zhi)造商的(de)建議進(jin)行操(cao)作。

鋼研納克(ke)PlasmaMS 300 電感耦合等離子(zi)體質(zhi)譜儀 ICP-MS擁有自主知(zhi)識產(chan)權

軟件著作權

1.《Imass質(zhi)譜軟(ruan)件》V1.0.0，ICPMS質(zhi)譜儀廠家，2015R11S240625

文章

1.《一種(zhong)四(si)級桿質譜儀真空測量(liang)系統及(ji)控制(zhi)系統的(de)研制(zhi)》2017.2，期刊(kan)

2.《HPLC-ICP-MS 測定六(liu)種中藥(yao)中五種形態》，2016.10.北京光譜(pu)年會

3.《電感耦合等離(li)子體質譜(pu)法測(ce)定鎳鎢合金中》2015.3.6，期刊

4.《不銹(xiu)鋼薄板橫截面(mian)的激光剝蝕-電(dian)感(gan)耦合等離(li)子體(ti)質譜原位統(tong)計分(fen)布分(fen)析》2013.10

5.《電感耦合等離子體四級桿質(zhi)譜碰撞(zhuang)反應池(chi)技(ji)術現狀與(yu)發展》，ICPMS質(zhi)譜儀價格，2013.3，期刊

6.《電(dian)感耦(ou)合等(deng)離(li)子體四極(ji)桿質(zhi)譜(pu)離(li)子光學系統的現狀和(he)進(jin)展》2013.3，期刊(kan)

7.《激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhi)譜新進展》， 2012.3，期刊

8.《電感(gan)耦合等離子體法測量(liang)錳鋅》；2014，冶金分(fen)析