直讀(du)光譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)(xi)儀具有分(fen)析(xi)(xi)(xi)速度快，準(zhun)(zhun)確度較高(gao)的(de)(de)特點，但對于碳、硅含量(liang)較高(gao)的(de)(de)鑄鐵(tie)(tie)特別是球鐵(tie)(tie)的(de)(de)爐前分(fen)析(xi)(xi)(xi)，存在(zai)(zai)試樣白(bai)口化(hua)及分(fen)析(xi)(xi)(xi)樣品(pin)與標準(zhun)(zhun)樣品(pin)的(de)(de)組織狀態和組分(fen)之間存在(zai)(zai)的(de)(de)不完(wan)全一致問(wen)題(ti)。本工作將(jiang)用鋼(gang)研納克SparkCCD7000直讀(du)光譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)(xi)儀應(ying)用于鑄造(zao)爐前分(fen)析(xi)(xi)(xi)，安徽光譜(pu)檢測儀，針對上述兩個問(wen)題(ti)進行(xing)了(le)試驗(yan)，提(ti)出了(le)解決(jue)這兩個問(wen)題(ti)的(de)(de)方法。

取溫度(du)為1400~1450度(du)鐵液，樣品在試樣模(mo)中澆鑄，試樣凝固后(hou)取出，將底面置于水中冷卻，用砂輪磨(mo)制平整。

爐前分析采用固定曲(qu)線控制(zhi)試(shi)樣(yang)法，即用標(biao)準化樣(yang)品對儀器做標(biao)準化后(hou)(hou)，再用控樣(yang)做校準后(hou)(hou)，對試(shi)樣(yang)激發三點取平均值。

直讀(du)光譜儀分析(xi)用的(de)(de)鑄鐵(tie)試樣(yang)要求分析(xi)的(de)(de)表面(mian)層的(de)(de)碳都以碳化物形(xing)式存在，不(bu)能有游(you)離石(shi)墨(mo)，即鑄鐵(tie)的(de)(de)分析(xi)面(mian)必須是(shi)完(wan)全的(de)(de)白口組(zu)織，當鑄鐵(tie)的(de)(de)表面(mian)有游(you)離石(shi)墨(mo)存在時(shi)，就會影響(xiang)激發效果(guo)，甚至使碳硫的(de)(de)分析(xi)成為不(bu)可能。

本法采用減薄試塊厚度鋼模有利于得到白口化鑄鐵試樣，控制消除球鐵中稀土元素鎂對硅的干擾，用直讀光譜儀分析滿足了爐前鐵液快速、準確分析的需要，為提高鑄件質量奠定了良好基礎。

直讀光(guang)譜儀有哪些種類？

直讀光譜儀可以(yi)有不同的劃分(fen)方法。

根據光(guang)(guang)(guang)柵所處的(de)環(huan)境不同，可分(fen)為(wei)真空(kong)型(xing)和非(fei)真空(kong)型(xing)直讀(du)光(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)，其中非(fei)真空(kong)型(xing)直讀(du)光(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)又可分(fen)為(wei)空(kong)氣(qi)型(xing)直讀(du)光(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)（無法測(ce)定真空(kong)紫外波段的(de)C、P、S、As等元(yuan)素含量）和充惰(duo)性氣(qi)體(ti)型(xing)直讀(du)光(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)（可以(yi)測(ce)定真空(kong)紫外元(yuan)素）；

根(gen)據儀器(qi)的結(jie)構不同，又可(ke)分為多(duo)道(dao)直(zhi)讀(du)光譜儀和全譜直(zhi)讀(du)光譜儀，其中前者多(duo)采用光電倍增管作為檢測器(qi)，后者多(duo)采用陣列(lie)檢測器(qi)（如CCD）。

隨著CCD技術的不斷發展，直讀光譜儀開始朝小型化、全譜型方向發展。小型化儀器功耗小，占用空間小且易于維護；全譜直讀光譜儀能夠獲得全波段范圍內的光譜，滿足多基體分析要求，譜線選擇靈活，可以有效扣除光譜干擾，分析，而多道直讀光譜儀只能檢測有限數量的光譜，很難做到這一點。

直讀光譜(pu)儀其它因素影響

光電光譜(pu)檢(jian)測(ce)分析存(cun)在的(de)誤(wu)差(cha)在所難免，要(yao)正確的(de)認識誤(wu)差(cha)，查找誤(wu)差(cha)存(cun)在的(de)原因(yin)(yin)，采取有效的(de)措施(shi)消除誤(wu)差(cha)。光譜(pu)檢(jian)測(ce)分析誤(wu)差(cha)除受上(shang)面幾種因(yin)(yin)素的(de)影響外，光譜(pu)檢(jian)測(ce)儀廠家，還有以下幾種因(yin)(yin)素的(de)影響：

1.人的(de)因素： ? ?操(cao)(cao)作(zuo)者的(de)質量意識(shi)、責任意識(shi)、操(cao)(cao)作(zuo)技術(shu)、水(shui)平(ping)高低、熟練程(cheng)度等(deng)都會影響檢測的(de)效果；

2.設備因素： ? ?比如(ru)設備的(de)狀態(tai)是(shi)否(fou)優(you)良、是(shi)否(fou)定期(qi)(qi)檢測(ce)和維(wei)護，光(guang)源性(xing)能穩定性(xing)如(ru)何，氬氣(qi)供氣(qi)系統是(shi)否(fou)穩定，試樣加工設備狀況是(shi)否(fou)正常(chang)、是(shi)否(fou)對(dui)加工設備進(jin)行定期(qi)(qi)維(wei)護保養等，都(dou)會一定程(cheng)度上影響檢測(ce)結果的(de)準(zhun)確性(xing)。

3.樣(yang)(yang)品(pin)試(shi)樣(yang)(yang)因(yin)素：比如待測試(shi)樣(yang)(yang)成(cheng)(cheng)分是(shi)(shi)否(fou)均(jun)勻(yun)，是(shi)(shi)否(fou)具(ju)有試(shi)樣(yang)(yang)的(de)代表性，熱處理(li)狀(zhuang)態(tai)和組(zu)織結(jie)構狀(zhuang)態(tai)是(shi)(shi)否(fou)正常，標準試(shi)樣(yang)(yang)的(de)成(cheng)(cheng)分和控制(zhi)試(shi)樣(yang)(yang)的(de)成(cheng)(cheng)分是(shi)(shi)否(fou)均(jun)勻(yun)，成(cheng)(cheng)分含量的(de)標準值是(shi)(shi)否(fou)可靠，組(zu)織結(jie)構是(shi)(shi)否(fou)統(tong)一(yi)、磨(mo)制(zhi)樣(yang)(yang)品(pin)方法是(shi)(shi)否(fou)規范、效(xiao)果是(shi)(shi)否(fou)有效(xiao)等等，光譜檢(jian)測儀價格(ge)，都是(shi)(shi)影(ying)響其檢(jian)測效(xiao)果的(de)關鍵因(yin)素。

4.分(fen)(fen)析(xi)方(fang)法(fa)因素(su)：在分(fen)(fen)析(xi)方(fang)法(fa)上，分(fen)(fen)析(xi)曲線制作及擬(ni)合程度是否(fou)達標(biao)，標(biao)準化過程及效果是否(fou)，控樣選(xuan)擇是否(fou)規范，光(guang)譜檢測儀廠家，定(ding)(ding)值是否(fou)嚴格等(deng)(deng)等(deng)(deng)，都一(yi)定(ding)(ding)程度上影響著檢測效果。

5.環境因素：比如檢測(ce)所在(zai)分析室的(de)(de)溫度、濕度是否(fou)(fou)正常，受否(fou)(fou)受電磁干擾的(de)(de)影響，所處環境是否(fou)(fou)清潔衛生，是否(fou)(fou)具備檢測(ce)要(yao)求(qiu)的(de)(de)條(tiao)件穩定(ding)的(de)(de)操作環境，只有有了(le)良好的(de)(de)檢測(ce)環境，才能(neng)為檢測(ce)結果的(de)(de)準(zhun)確(que)性提供保障。