半(ban)導體常用失效分析檢測儀器;

顯微鏡分析OM無損檢測

金相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)OM：可(ke)用來進行(xing)器件外(wai)觀及(ji)失(shi)效部(bu)位的(de)(de)表面形(xing)狀，無錫輪廓(kuo)檢(jian)測(ce)，尺寸，結構，缺陷等觀察。金相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)系統是將傳統的(de)(de)光學(xue)顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)與(yu)計算機(ji)（數(shu)碼(ma)(ma)相(xiang)(xiang)機(ji)）通過(guo)光電轉換有機(ji)的(de)(de)結合(he)在一起，不(bu)僅可(ke)以在目(mu)鏡(jing)上(shang)作(zuo)顯(xian)微(wei)(wei)觀察，輪廓(kuo)檢(jian)測(ce)價(jia)格，還能(neng)在計算機(ji)（數(shu)碼(ma)(ma)相(xiang)(xiang)機(ji)）顯(xian)示屏幕上(shang)觀察實時(shi)動態(tai)圖像，電腦型金相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)并能(neng)將所需要(yao)的(de)(de)圖片進行(xing)編(bian)輯、保(bao)存和打印(yin)。金相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)可(ke)供研究單位、冶金、機(ji)械制(zhi)造(zao)工廠以及(ji)高等工業(ye)院校進行(xing)金屬(shu)學(xue)與(yu)熱(re)處理、金屬(shu)物理學(xue)、煉(lian)鋼與(yu)鑄造(zao)過(guo)程等金相(xiang)(xiang)試驗研究之用，實現樣品外(wai)觀、形(xing)貌檢(jian)測(ce) ?、制(zhi)備樣片的(de)(de)金相(xiang)(xiang)顯(xian)微(wei)(wei)分析和各(ge)種缺陷的(de)(de)查找等功能(neng)。

微光顯微鏡偵測得到亮點之情況：會產生亮點的缺陷 - 漏電結（Junction Leakage）; 接觸毛刺（Contact spiking）; （熱電子效應）Hot electr;閂鎖效應（ Latch-Up）;氧化層漏電（ Gate oxide defects / Leakage(F-N current)）;多晶硅晶須（Poly-silicon filaments）; 襯底損傷（Substrate damage）; （物理損傷）Mechanical damage等。原來就會有的亮點 - Saturated/ Active bipolar transistors; -Saturated MOS/Dynamic CMOS; Forward biased diodes/Reverse；biased diodes(break down) 等。

顯微觀察技術是一-種可以提供化學鍵合以及材料的分子結構的相關信息的失效分析技術，不論對象是有機物還是無機物。通常被用來確定樣品表面的未知材料，輪廓檢測設備，一般是用作對EDX分析的補充。蘇州特斯特電子科技有限公司，輪廓檢測設備價格，主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務，產品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。

無錫輪廓檢測-輪廓檢測價格-蘇州特斯特(推薦商家)由蘇州特斯特電子科技有限公司提供。蘇州特斯特電子科技有限公司位于蘇州工業園區新平街388號騰飛創新園23幢5層04室5529C號房間。在市場經濟的浪潮中拼博和發展，目前蘇州特斯特在分析儀器中享有良好的聲譽。蘇州特斯特取得全網商盟認證，標志著我們的服務和管理水平達到了一個新的高度。蘇州特斯特全體員工愿與各界有識之士共同發展，共創美好未來。