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蘇州(zhou)英飛思科(ke)學儀器有限公司(si),英文名字(zi):Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
公(gong)司(si)logo和英(ying)文縮寫為ESI。
英飛思ESI坐落于美麗而(er)現代的(de)蘇州(zhou)工業園。
XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內完成。
膜(mo)厚儀(yi)EDX-8000B型(xing)XRF鍍(du)層測厚儀(yi)
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦(jiao)光學器(qi)件
通過將高(gao)亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區域,EDX8000T Plus鍍層測厚儀,實(shi)現高(gao)精度測量(liang)。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統
高(gao)計數率(lv)硅漂移(yi)檢測器可實(shi)現高(gao)精度測量(liang)。
>高分辨率樣(yang)品(pin)觀測系(xi)統
的點位測量功能有助于(yu)提高測量精(jing)度。
溫馨提示:以上是關于EDX8000T Plus鍍層測厚儀-英飛思科學的詳細介紹,產品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產品信息感興趣可以或者 ,您也可以查看更多與分析儀器相關的產品!
蘇(su)州(zhou)英飛思科學儀器有(you)限公(gong)司
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