ICPMS電感耦合

在ICP-MS中，ICP作為質(zhi)譜的高(gao)(gao)溫(wen)離(li)(li)(li)子(zi)源，樣品(pin)在通(tong)道(dao)中進(jin)行(xing)蒸發、解離(li)(li)(li)、原(yuan)子(zi)化(hua)、電離(li)(li)(li)等過程(cheng)。離(li)(li)(li)子(zi)通(tong)過樣品(pin)錐接(jie)口和離(li)(li)(li)子(zi)傳輸系統進(jin)入(ru)高(gao)(gao)真空的MS部(bu)分(fen)(fen)，吉(ji)天ICP-MS，MS部(bu)分(fen)(fen)為四極快速掃描(miao)(miao)質(zhi)譜儀，通(tong)過高(gao)(gao)速順序掃描(miao)(miao)分(fen)(fen)離(li)(li)(li)測定(ding)所有離(li)(li)(li)子(zi)，掃描(miao)(miao)元素(su)質(zhi)量數范圍從6到260，并通(tong)過高(gao)(gao)速雙通(tong)道(dao)分(fen)(fen)離(li)(li)(li)后的離(li)(li)(li)子(zi)進(jin)行(xing)檢測，因(yin)此，吉(ji)天ICP-MS生產廠(chang)家，與傳統無(wu)機(ji)分(fen)(fen)析(xi)(xi)技術(shu)相(xiang)比，ICP-MS技術(shu)提供(gong)了更低的檢出限、更寬的動態線性范圍、干擾(rao)更少、分(fen)(fen)析(xi)(xi)精密度高(gao)(gao)、分(fen)(fen)析(xi)(xi)速度快、可進(jin)行(xing)多元素(su)同(tong)時(shi)測定(ding)以及可提供(gong)的同(tong)位素(su)信息等分(fen)(fen)析(xi)(xi)特(te)性。

電(dian)感耦合等離子(zi)體(ti)質譜(pu)儀

ICP-MS全(quan)稱是(shi)(shi)電感耦(ou)合等(deng)(deng)離子體質譜儀(yi)，主(zhu)要用(yong)途(tu)是(shi)(shi)進行化(hua)學元素(su)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)檢測(ce)，特(te)別是(shi)(shi)對金百(bai)屬(shu)元素(su)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)擅(shan)長，也能分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)B、P、As等(deng)(deng)非金屬(shu)元素(su)。他(ta)度和ICP-OES、AAS是(shi)(shi)化(hua)學元素(su)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)的(de)常用(yong)的(de)三(san)種儀(yi)器，ICP-MS的(de)檢測(ce)限(xian)較低，吉天ICP-MS廠家，可(ke)以達到PPT（10的(de)負(fu)12次(ci)方問(wen)）級。

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電感耦合工作原理

電(dian)(dian)感耦合等離子體(ti)質(zhi)(zhi)譜儀工作原理(li)是根據(ju)被測元素通過一(yi)定形式進入高頻等離子體(ti)中，在(zai)高溫下(xia)電(dian)(dian)離成離子，產(chan)生的離子經過離子光學(xue)透鏡聚焦后進人四極(ji)桿質(zhi)(zhi)譜分(fen)析器按(an)照(zhao)荷質(zhi)(zhi)比(bi)(bi)分(fen)離，吉天(tian)ICP-MS廠(chang)家，既可(ke)以(yi)(yi)按(an)照(zhao)荷質(zhi)(zhi)比(bi)(bi)進行(xing)(xing)半(ban)定量分(fen)析，也(ye)可(ke)以(yi)(yi)按(an)照(zhao)特(te)定荷質(zhi)(zhi)比(bi)(bi)的離子數目進行(xing)(xing)定量分(fen)析。該(gai)類型質(zhi)(zhi)譜儀主要由離子源、質(zhi)(zhi)量分(fen)析器和檢測器三部分(fen)組成，還配有數據(ju)處(chu)理(li)系(xi)統(tong)(tong)、真空系(xi)統(tong)(tong)、供電(dian)(dian)控制系(xi)統(tong)(tong)等。