由于電子本能會尋求穩定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內所出來的X射線的數量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

不需要每天標定儀器(qi)，開(kai)機即可檢測，大大提高生產效(xiao)率(lv)，并降(jiang)低了對標準樣(yang)品(pin)的依賴

?多重儀(yi)器硬件(jian)保(bao)護系統，并可通過(guo)軟件(jian)進行全(quan)程(cheng)實時監(jian)控， 讓儀(yi)器工作(zuo)更(geng)穩定、更(geng)安全(quan)

?特別(bie)設計(ji)的光路(lu)和真(zhen)空(kong)系(xi)統提(ti)高了輕元素的測試靈敏(min)度3-5倍(Na， Mg，黑龍江合金分析光譜儀， Al， Si， P)

?友好(hao)的用戶(hu)界面，可定(ding)制(zhi)的分(fen)析報告(gao)，合(he)金分(fen)析光譜儀廠商(shang)，可一鍵(jian)打印測試(shi)報告(gao)，包括分(fen)析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖(tu)像

?八種光路準(zhun)直系統(tong)，根據不(bu)同(tong)樣品大小自動切換(huan)，亦可(ke)測試樣品不(bu)同(tong)位置再求平均(jun)值，降低樣品不(bu)均(jun)勻(yun)性造成的誤(wu)差

?高(gao)清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所(suo)檢測的樣品部位

界面清(qing)晰易(yi)用。一鍵測(ce)試，簡單易(yi)用，無需手動選擇工(gong)作(zuo)曲線，軟(ruan)件自動匹配樣品基(ji)體，合(he)(he)金分析光譜儀(yi)好(hao)不好(hao)，即使非技術人員(yuan)也(ye)能快速(su)掌握儀(yi)器使用的(de)基(ji)本參數FP和經驗(yan)系數法EC的(de)結(jie)合(he)(he)不僅(jin)可以分析高純合(he)(he)金，也(ye)可以對(dui)基(ji)體復(fu)雜的(de)多雜質樣品進行定(ding)性定(ding)量分析。FP參數算(suan)法的(de)應(ying)用，也(ye)使得儀(yi)器對(dui)標準(zhun)樣品的(de)依(yi)賴度大大降低(di)。蘇州(zhou)英飛(fei)思科學儀(yi)器有(you)限公(gong)司蘇州(zhou)英飛(fei)思科學儀(yi)器有(you)限公(gong)司蘇州(zhou)英飛(fei)思科學儀(yi)器有(you)限公(gong)司