引體向上計數器

《國(guo)家學(xue)生體(ti)質(zhi)(zhi)健康標(biao)準》測試(shi)要求(qiu)所有初高中(zhong)和大學(xue)男生每年必須進行(xing)引(yin)體(ti)向上測試(shi)，是(shi)衡量(liang)男性體(ti)質(zhi)(zhi)的(de)(de)重要參考標(biao)準和項目(mu)之(zhi)一(yi)(yi)。傳統的(de)(de)引(yin)體(ti)向上測試(shi)需要人工(gong)監考，引(yin)體(ti)向上測試(shi)儀價(jia)格，主觀性大，標(biao)準不(bu)統一(yi)(yi)，容易出現考試(shi)成績不(bu)公平的(de)(de)現象。目(mu)前國(guo)內外有基于機(ji)器(qi)(qi)(qi)視覺的(de)(de)引(yin)體(ti)向上計(ji)數(shu)器(qi)(qi)(qi)。以下是(shi)一(yi)(yi)種基于機(ji)器(qi)(qi)(qi)視覺的(de)(de)引(yin)體(ti)向上計(ji)數(shu)器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)技(ji)術方(fang)案介紹：

計(ji)數(shu)器包括樹(shu)莓(mei)派(pai)模塊(kuai)和單(dan)目(mu)攝像(xiang)頭(tou)，單(dan)目(mu)攝像(xiang)頭(tou)內嵌入有人臉識別模塊(kuai)，引體(ti)向上(shang)測試儀設備，樹(shu)莓(mei)派(pai)模塊(kuai)中預安(an)裝有引體(ti)向上(shang)計(ji)數(shu)程序，單(dan)目(mu)攝像(xiang)頭(tou)布(bu)設在(zai)單(dan)杠水(shui)平高度并與樹(shu)莓(mei)派(pai)模塊(kuai)連接。

樹莓派模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)包(bao)括數(shu)(shu)據(ju)(ju)輸入(ru)(ru)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)、主控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)器、數(shu)(shu)據(ju)(ju)顯示模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)、圖(tu)像(xiang)處理(li)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)、位(wei)置檢測模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)、目標(biao)跟蹤(zong)(zong)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)和計數(shu)(shu)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)。主控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)器為主要控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)單(dan)元(yuan)，用(yong)以(yi)對其他模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)進(jin)行(xing)控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)，數(shu)(shu)據(ju)(ju)輸入(ru)(ru)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)、數(shu)(shu)據(ju)(ju)顯示模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)、圖(tu)像(xiang)處理(li)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)、位(wei)置檢測模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)、目標(biao)跟蹤(zong)(zong)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)和計數(shu)(shu)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)均與主控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)器連(lian)接；數(shu)(shu)據(ju)(ju)輸入(ru)(ru)模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)用(yong)以(yi)將單(dan)目攝像(xiang)頭采集的人臉圖(tu)像(xiang)輸入(ru)(ru)至主控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)器中進(jin)行(xing)識(shi)別(bie)，識(shi)別(bie)結(jie)果通過(guo)數(shu)(shu)據(ju)(ju)顯示模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)進(jin)行(xing)顯示。

單目(mu)(mu)攝像(xiang)頭采集(ji)的(de)引體向上計(ji)數圖像(xiang)經過(guo)數據輸入模塊后，經過(guo)圖像(xiang)處理模塊、位置檢測模塊、目(mu)(mu)標跟蹤模塊和計(ji)數模塊進(jin)行識別(bie)計(ji)算(suan)，自動對人臉識別(bie)的(de)目(mu)(mu)標進(jin)行引體計(ji)數。

這種(zhong)計數器的(de)優(you)點(dian)在(zai)于設(she)備使用(yong)嵌入式系統(tong)代替傳統(tong)PC平(ping)臺，黑龍江引(yin)體向上測(ce)試儀，技(ji)術實現優(you)化(hua)了(le)現有使用(yong)人臉(lian)識別(bie)的(de)方(fang)法(fa)，采(cai)用(yong)人臉(lian)識別(bie)與目標跟蹤相融合的(de)方(fang)法(fa)，使得結構簡(jian)單、布設(she)方(fang)便，降低了(le)硬件成本，具有較高(gao)的(de)使用(yong)價值(zhi)。

引體(ti)向上(shang)測試儀使(shi)用方法

測(ce)(ce)試(shi)前的準備工作（1）將智能引體向上測(ce)(ce)試(shi)儀從包(bao)裝盒拿出放在(zai)測(ce)(ce)試(shi)支架上，將電子(zi)引體向上測(ce)(ce)試(shi)儀從包(bao)裝盒拿出放在(zai)支架上并(bing)打(da)開(kai)(kai)電源開(kai)(kai)關(guan)，進行安裝調試(shi)。（2）打(da)開(kai)(kai)顯(xian)示(shi)器電源開(kai)(kai)關(guan)，按顯(xian)示(shi)屏上的【測(ce)(ce)量】聽到滴叫一聲即(ji)可開(kai)(kai)始(shi)測(ce)(ce)試(shi)

關于主(zhu)(zhu)(zhu)(zhu)機(ji)(ji)、子機(ji)(ji)充(chong)(chong)電(dian)和電(dian)池的(de)問(wen)題在每次測(ce)(ce)(ce)試(shi)之(zhi)前，或連續測(ce)(ce)(ce)試(shi)期間，請(qing)在每天(tian)的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)工作完成后，對顯(xian)示屏（主(zhu)(zhu)(zhu)(zhu)機(ji)(ji)）和引(yin)(yin)體(ti)向上(shang)(shang)單(dan)(dan)機(ji)(ji)進(jin)行充(chong)(chong)電(dian)，以保證顯(xian)示屏（主(zhu)(zhu)(zhu)(zhu)機(ji)(ji)）和引(yin)(yin)體(ti)向上(shang)(shang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)單(dan)(dan)機(ji)(ji)的(de)內部充(chong)(chong)電(dian)電(dian)池電(dian)力充(chong)(chong)足(zu)，確(que)保第二天(tian)能正常測(ce)(ce)(ce)試(shi)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)完畢后，包括充(chong)(chong)電(dian)期間，請(qing)務必關閉主(zhu)(zhu)(zhu)(zhu)機(ji)(ji)電(dian)源。 ? ?平時不使用(yong)時，也應(ying)至(zhi)少(shao)三至(zhi)六(liu)個(ge)月給(gei)引(yin)(yin)體(ti)向上(shang)(shang)顯(xian)示屏（主(zhu)(zhu)(zhu)(zhu)機(ji)(ji)）和引(yin)(yin)體(ti)向上(shang)(shang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)單(dan)(dan)機(ji)(ji)充(chong)(chong)一次電(dian)。

引(yin)體向上測試儀常(chang)見問題(ti)

引體向(xiang)上測(ce)試儀(yi)在使用過程中可能會遇到以下常(chang)見問(wen)題：

準確性(xing)問題：設(she)備的(de)傳(chuan)感器可能出現誤差，導致測試結(jie)果(guo)不準確。這可能是由于設(she)備校準不當、傳(chuan)感器故障或使用不當等原因引起的(de)。

故障和損壞：設備可能會出現(xian)故障或(huo)損壞，例如顯(xian)示(shi)屏不工作、按鈕失靈、連接線松動等。這可能需要進行設備維修(xiu)或(huo)更(geng)換部件。

兼容性問題：某些(xie)引體向上測試儀可能(neng)與特(te)定的操作系(xi)統或軟件(jian)不兼容，導致(zhi)數據傳輸或記錄出現問題。

使用(yong)方法不正(zheng)確：測(ce)試(shi)者可能不熟悉(xi)設(she)(she)備(bei)的正(zheng)確使用(yong)方法，例(li)如握持姿勢不正(zheng)確、動作(zuo)不規范(fan)等，引體(ti)向上測(ce)試(shi)儀設(she)(she)備(bei)，這可能影響測(ce)試(shi)結果(guo)的準確性。

環境(jing)影響：環境(jing)因素，如溫度(du)、濕度(du)、光照等，可能(neng)會對設備的性能(neng)產生影響。

數(shu)據(ju)丟失或錯誤：在(zai)數(shu)據(ju)存儲或傳輸(shu)過程中，可能會發生數(shu)據(ju)丟失或錯誤的(de)情況。為(wei)了(le)避免(mian)或解(jie)決這些問(wen)(wen)題(ti)，建(jian)議定期對(dui)設(she)備進行維(wei)護和校(xiao)準，確(que)保測(ce)試者正(zheng)確(que)使(shi)用設(she)備，并在(zai)出(chu)現問(wen)(wen)題(ti)時及時聯系設(she)備供應商(shang)或技術人(ren)員進行維(wei)修和支持。此外，遵循設(she)備的(de)使(shi)用說明書和操作指南(nan)也(ye)是很(hen)重要的(de)。