三、試塊的缺陷。

超聲(sheng)波探(tan)傷標準(zhun)試塊(kuai)通常包含一(yi)定數量(liang)和(he)(he)類型(xing)的(de)缺(que)陷 ，如孔隙、裂(lie)紋、夾雜(za)物等。這些(xie)缺(que)陷的(de)尺寸、形狀和(he)(he)位(wei)置(zhi)應(ying)符合相應(ying)的(de)標準(zhun)要求，用于驗證超聲(sheng)波探(tan)傷設備的(de)探(tan)測(ce)性(xing)能和(he)(he)準(zhun)確性(xing)。因此，在制造試塊(kuai)時，必須嚴格控制缺(que)陷的(de)制造過(guo)程，以保證試塊(kuai)的(de)準(zhun)確性(xing)和(he)(he)可靠(kao)性(xing)。

四、試塊(kuai)的標定和驗證。

超聲(sheng)波探傷(shang)標(biao)(biao)(biao)準試塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)必須經過嚴(yan)格(ge)的(de)標(biao)(biao)(biao)定(ding)和(he)驗證(zheng)過程，以(yi)確保其符合相(xiang)應的(de)標(biao)(biao)(biao)準要求。標(biao)(biao)(biao)定(ding)過程包(bao)括超聲(sheng)波探傷(shang)設備的(de)參數設置和(he)試塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)的(de)校準，驗證(zheng)過程則包(bao)括對(dui)試塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)中缺(que)陷的(de)檢測和(he)記(ji)錄。只有(you)經過嚴(yan)格(ge)的(de)標(biao)(biao)(biao)定(ding)和(he)驗證(zheng)，試塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)才能(neng)被(bei)認為是合格(ge)的(de)超聲(sheng)波探傷(shang)標(biao)(biao)(biao)準試塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)。

五、試塊的使用和維護。

超聲波探傷標準試塊在使用過程中需要嚴格按照標準要求進行操作，避免試塊本身的損壞或變形。同時，試塊也需要定期進行維護和檢測，以確保其性能和準確性。只有在試塊的使用和維護過程中嚴格按照標準要求，才能保證超聲波探傷的準確性和可靠性。

常(chang)用的試塊就兩(liang)種(zhong)：CSK-IA 、 CSK-IIIA，焊接(jie)試塊，具體就看您檢測工件了(le)。北京星辰(chen)梅。

(1):CSK-IA是我國鍋爐和鋼制(zhi)壓力(li)容器(qi)對焊(han)縫超(chao)聲波(bo)探傷(shang)JB1152-81標準規(gui)定的標準試(shi)塊(kuai)，是基于IIW試(shi)塊(kuai)改進(jin)得到的。

①、臺階孔?50、?44、?40，便于測定橫波斜探頭的分辨力；

②、R100、R50階梯圓弧，便于調(diao)整橫(heng)波掃描速度和探測范(fan)圍；

③、標定(ding)的折射角開為K值(zhi)(zhi)（K=tgβ），可直接測出橫波斜探頭的K值(zhi)(zhi)。

(2):CSK-IIA是國家行業標(biao)準試塊，CSK-IIA適用(yong)于(yu)壁厚范(fan)圍為8-120mm的焊縫。

超聲波特點：

1.在空氣中不能傳(chuan)播，遇(yu)到(dao)空氣100%反射(she)。

2.超聲(sheng)波(bo)在行經介質時，若遇到不(bu)同密(mi)度或彈(dan)性系(xi)數物質時，即會產生反射回(hui)波(bo)的特性，而此種(zhong)反射回(hui)波(bo)強度會因(yin)材料密(mi)度不(bu)同而有所(suo)差(cha)異。

超聲波檢測原理：

C-SAM檢測(ce)（超聲波(bo)檢測(ce)）即利(li)用此特(te)性來檢出材料(liao)內部(bu)的缺陷并依所接(jie)收之訊號變化將之成像。

因此，只要(yao)被(bei)檢測的(de)IC上表面或內部晶片構裝材料的(de)界面有離層、空洞、裂(lie)縫等缺陷(xian)時，即可由C-SAM影像得知缺陷(xian)相對(dui)位置(zhi)。