EMMI微光顯微鏡

微光顯微鏡（Emission Microscope， EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言，微光顯微鏡（Emission Microscope， EMMI）是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會放出光子（Photon）。如在P-N結加偏壓，此時N阱的電子很容易擴散到P阱，而P的空穴也容易擴散至N，EMMI微光顯微鏡，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點定位、尋找近紅外波段發光點等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.

首先超聲波掃描顯微鏡并非與光學掃描顯微鏡截然不同，它們之間的相同點是“顯示被測樣品的顯微圖像”，而后者是表面的顯微圖像，溫州顯微鏡，前者是內部顯微圖像；在一些特殊行業特殊領域中，正是需要超聲波掃描顯微鏡的內部成像，從作用原理上光學鏡為可見光，而超聲波掃描顯微鏡自然是超聲波。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務，產品涵蓋電子元器件，電路板，紅外顯微鏡，線纜線束的測試與檢測。設備主要來自于歐美日等測試設備制造國家。

超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)掃描顯微(wei)鏡的(de)(de)應用領域半導(dao)(dao)體(ti)(ti)電(dian)(dian)子行(xing)業(ye)：? 半導(dao)(dao)體(ti)(ti)晶圓片、封裝器件(jian)(jian)、大功率(lv)器件(jian)(jian)IGBT、紅外器件(jian)(jian)、光電(dian)(dian)傳感器件(jian)(jian)、SMT貼片器件(jian)(jian)、MEMS等(deng)；? 材(cai)料(liao)行(xing)業(ye)：復合材(cai)料(liao)、鍍膜、電(dian)(dian)鍍、注塑、合金(jin)、超導(dao)(dao)材(cai)料(liao)、陶瓷(ci)、金(jin)屬焊接、摩(mo)擦界(jie)面(mian)等(deng)；生物醫學：細胞動態研(yan)究、骨骼、血管的(de)(de)研(yan)究等(deng)。 超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)掃描顯微(wei)鏡有(you)兩種工(gong)作模(mo)式(shi)(shi)：基于超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)脈沖反射和透射模(mo)式(shi)(shi)工(gong)作的(de)(de)。反射模(mo)式(shi)(shi)是(shi)主要(yao)的(de)(de)工(gong)作模(mo)式(shi)(shi)，它的(de)(de)特點是(shi)分(fen)辨率(lv)高(gao)，對待測樣(yang)品厚(hou)度的(de)(de)沒有(you)限制。透射模(mo)式(shi)(shi)只在半導(dao)(dao)體(ti)(ti)企(qi)業(ye)中用作器件(jian)(jian)篩選。

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