因(yin)此，依(yi)靠(kao)傳統的(de)建立(li)(li)工(gong)作曲線方法進行(xing)定量(liang)分析(xi)是十分困難的(de)，化學(xue)計量(liang)學(xue)的(de)發展(zhan)為(wei)這(zhe)一(yi)問題(ti)的(de)解決奠定了(le)數(shu)(shu)學(xue)基(ji)礎(chu)。其工(gong)作原理是，如(ru)果(guo)(guo)樣(yang)品的(de)組成相(xiang)同(tong)，則(ze)其光(guang)譜也相(xiang)同(tong)，反(fan)之亦然(ran)。如(ru)果(guo)(guo)我們建立(li)(li)了(le)光(guang)譜與待測參數(shu)(shu)之間的(de)對應(ying)(ying)關系(稱為(wei)分析(xi)模型)，那么，只要(yao)(yao)測得樣(yang)品的(de)光(guang)譜，通過光(guang)譜和上(shang)述對應(ying)(ying)關系，就能很快(kuai)得到所需要(yao)(yao)的(de)質(zhi)量(liang)參數(shu)(shu)數(shu)(shu)據(ju)。透光(guang)率測試儀(yi)

廣州景頤光電主營產品：透過率檢測儀、透光率檢測儀、反射率檢測儀、吸光度檢測儀、激光波長檢測儀、光斑質量分析儀、反射率積分球、透過率積分球、積分球均勻光源、輻射通用積分球、漫反射目標板、漫反射定標板、漫反射標準白板、漫反射標準黑板、漫反射標準布等。透光率測試儀

廣(guang)州景頤光(guang)(guang)電主營產品：透過率(lv)(lv)(lv)檢測(ce)儀(yi)、透光(guang)(guang)率(lv)(lv)(lv)檢測(ce)儀(yi)、反射(she)率(lv)(lv)(lv)檢測(ce)儀(yi)、吸光(guang)(guang)度檢測(ce)儀(yi)、激(ji)光(guang)(guang)波長檢測(ce)儀(yi)、光(guang)(guang)斑質量(liang)分(fen)析儀(yi)、反射(she)率(lv)(lv)(lv)積分(fen)球、透過率(lv)(lv)(lv)積分(fen)球、積分(fen)球均勻光(guang)(guang)源、輻(fu)射(she)通用積分(fen)球、漫(man)反射(she)目標板(ban)、漫(man)反射(she)定標板(ban)、漫(man)反射(she)標準(zhun)(zhun)白(bai)板(ban)、漫(man)反射(she)標準(zhun)(zhun)黑(hei)板(ban)、漫(man)反射(she)標準(zhun)(zhun)布等。透光(guang)(guang)率(lv)(lv)(lv)測(ce)試儀(yi)

近紅外光譜分析技術包括定性分析和定量分析，定性分析的目的是確定物質的組成與結構，而定量分析則是為了確定物質中某些組分的含量或是物質的品質屬性的值。與常用的化學分析方法不同，近紅外光譜分析法是一種間接分析技術，是用統計的方法在樣品待測屬性值與近紅外光譜數據之間建立一個關聯模型(或稱校正模型，Calibration Model)。透光率測試儀

光(guang)(guang)(guang)譜(pu)在(zai)(zai)線采樣(yang)主(zhu)要(yao)有兩種(zhong)方式(shi)(shi):流(liu)通(tong)池(chi)和直接插(cha)(cha)入(ru)式(shi)(shi)光(guang)(guang)(guang)纖探(tan)頭(tou)。流(liu)通(tong)池(chi)方式(shi)(shi)需要(yao)從裝置主(zhu)流(liu)路引出一(yi)旁(pang)路，為了減少機(ji)械雜質(zhi)(zhi)等(deng)因素對測(ce)量(liang)信號的(de)影響，透光(guang)(guang)(guang)率(lv)(lv)測(ce)試儀(yi)，通(tong)常需將(jiang)樣(yang)品(pin)(pin)引入(ru)預處理(li)系統，對樣(yang)品(pin)(pin)的(de)壓(ya)力、溫(wen)(wen)度(du)和流(liu)速控制以(yi)及(ji)對樣(yang)品(pin)(pin)中(zhong)的(de)氣泡、水分和機(ji)械雜質(zhi)(zhi)進行濾除，待測(ce)樣(yang)品(pin)(pin)經預處理(li)后流(liu)入(ru)流(liu)通(tong)池(chi)，由光(guang)(guang)(guang)纖探(tan)頭(tou)方式(shi)(shi)是將(jiang)探(tan)頭(tou)直接插(cha)(cha)入(ru)主(zhu)流(liu)路中(zhong)，PBT激光(guang)(guang)(guang)透光(guang)(guang)(guang)率(lv)(lv)測(ce)試儀(yi)，但這種(zhong)方式(shi)(shi)會(hui)受到(dao)如壓(ya)力、溫(wen)(wen)度(du)、氣泡等(deng)對光(guang)(guang)(guang)譜(pu)的(de)影響，注塑(su)透光(guang)(guang)(guang)率(lv)(lv)測(ce)試儀(yi)，探(tan)頭(tou)還容易(yi)被(bei)污染，需定期將(jiang)其拆卸拔出清洗，探(tan)頭(tou)的(de)長(chang)期插(cha)(cha)拔不僅存在(zai)(zai)光(guang)(guang)(guang)纖損壞(huai)的(de)潛在(zai)(zai)危險性，還會(hui)對光(guang)(guang)(guang)譜(pu)的(de)測(ce)量(liang)一(yi)致性帶來影響。透光(guang)(guang)(guang)率(lv)(lv)測(ce)試儀(yi)

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