靜電放電抗擾度試驗

標準依據

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

試驗目的

模(mo)擬操作(zuo)人員或物體(ti)在接(jie)(jie)觸設(she)備時放電(dian)及人或物體(ti)對鄰近物體(ti)的放電(dian)，以考察被(bei)試設(she)備抵抗靜電(dian)放電(dian)干(gan)擾能力。前者是(shi)通過導(dao)體(ti)直接(jie)(jie)耦合(he)，屬(shu)于(yu)直接(jie)(jie)放電(dian)影響。 后者是(shi)通過空間(jian)輻射耦合(he)，屬(shu)于(yu)間(jian)接(jie)(jie)放電(dian)影響。

試驗設備

靜電脈沖發生器

試驗等級（嚴酷度等級）

試驗原理

靜電放電電流的典型波形

靜電放電電流的典型波形參數

立式設備實驗室配置圖

試驗環境條件

環境溫度：15 ~ 35 ℃

相對濕度：30 ~ 60 %

大氣(qi)壓力：86~106 kPa

試驗的實施

接觸放電(dian)(dian)使(shi)(shi)用(yong)尖形放電(dian)(dian)電(dian)(dian)極(ji)，空氣放電(dian)(dian)使(shi)(shi)用(yong)圓形放電(dian)(dian)電(dian)(dian)極(ji)；

優先采用接觸放電；

直(zhi)接放電(dian)試(shi)(shi)驗，放電(dian)電(dian)極直(zhi)接對(dui)被試(shi)(shi)設備進行放電(dian)試(shi)(shi)驗。試(shi)(shi)驗對(dui)象包括用戶在(zai)使用中可(ke)能觸及(ji)到的(de)任何地方以及(ji)在(zai)帶電(dian)維(wei)護和校正時(shi)可(ke)能觸及(ji)的(de)地方。如：金(jin)屬(shu)簧i片、機殼(ke)、機框、按 鍵、螺絲(si)、指示燈、開關等；

間接放電(dian)試驗可對水平耦合板和垂直(zhi)耦合板進行放電(dian)；

試驗(yan)速率 1 次/s，每(mei)個(ge)放(fang)電點至少在正負極性各放(fang)電10 次。

試驗結果判定

a. 在試驗過程中，寧波(bo)電(dian)磁兼容，設備(bei)的(de)工(gong)作(zuo)完全(quan)正常 設備(bei)的(de)工(gong)作(zuo)完全(quan)正常。

b. 在試驗中，設備受干(gan)擾(rao)影響產生了暫時性的(de)功(gong)能降低，但撤消干(gan)擾(rao)后，設備的(de)功(gong)能可

以自動恢復正常。

c. 在試驗中，設(she)備受(shou)干擾影響產生了暫時(shi)性的功(gong)能(neng)降低，但(dan)干擾撤消后，設(she)備的功(gong)能(neng)需(xu)

要人工復位(wei)后方能恢復。

d. 在試驗中，受干擾(rao)的設備產(chan)生了不可逆轉的損傷(shang)，包括元器件(jian)的損傷(shang) 、軟件(jian)或(huo)數(shu)據(ju)

丟失等。

對于情形a、b，電磁兼容測試報(bao)告，判為合格。

對于情形c、d，判(pan)為不合(he)格。

電快(kuai)速瞬(shun)變脈(mo)沖群(qun)抗擾度(du)

標準依據

IEC61000 - 4 - 4

EN61000-4-4

GB/T17626.4

試驗目的

評估通訊(xun)和(he)電子(zi)設備(bei)的供電電源端口、信號和(he)控制端口在(zai)受到重復的快(kuai)速瞬變(bian)脈沖群干擾(rao)(rao)時的性能， 驗(yan)證通訊(xun)和(he)電子(zi)設備(bei)對來(lai)自操作暫態過(guo)程(cheng) (如(ru)開斷感性負荷(he)、繼電器觸頭(tou)彈跳等) 中的各種(zhong)類型(xing)瞬變(bian)擾(rao)(rao)動的抗擾(rao)(rao)性。

試驗設備

瞬變脈沖群i發生器

耦合去耦網絡

容性耦合鉗

試驗等級（嚴酷度等級）

試驗原理

試驗的實施

對交/直(zhi)流電(dian)源端口的試(shi)(shi)驗(yan)一般(ban)采用耦(ou)(ou)合(he)(he)、去(qu)(qu)耦(ou)(ou)網(wang)絡。 如(ru)不能使(shi)用耦(ou)(ou)合(he)(he)/去(qu)(qu)耦(ou)(ou)網(wang)絡時 ，可以使(shi)用容性耦(ou)(ou)合(he)(he)夾(jia)。試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)壓應該通過耦(ou)(ou)合(he)(he)/去(qu)(qu)耦(ou)(ou)網(wang)絡施加到保護地上；

對I/O端口及通信端口的試驗，采用容性耦合夾。

試驗結果判定

對于(yu)情形a，判為合(he)格。

對于情 形b、c、d，判為(wei)不合格(ge)。

浪(lang)(lang)(lang)涌(yong)抗擾(rao)度(du)(du)試(shi)驗(yan)所(suo)依據的(de)(de)(de)(de)是(shi)IEC61000-4-5:2005，對(dui)應是(shi)GB/T17626.2:200X《電(dian)(dian)磁(ci)(ci)兼容(rong) 試(shi)驗(yan)和測量技(ji)術(shu)浪(lang)(lang)(lang)涌(yong)（沖(chong)擊）抗擾(rao)度(du)(du)試(shi)驗(yan)》。 ? ?浪(lang)(lang)(lang)涌(yong)（沖(chong)擊）抗擾(rao)度(du)(du)試(shi)驗(yan)就(jiu)是(shi)模擬雷擊帶來的(de)(de)(de)(de)干(gan)擾(rao)影響，但需要指出的(de)(de)(de)(de)是(shi)，電(dian)(dian)磁(ci)(ci)兼容(rong)實驗(yan)室(shi)，考核(he)設(she)備(bei)電(dian)(dian)磁(ci)(ci)兼容(rong)性(xing)(xing)能的(de)(de)(de)(de)浪(lang)(lang)(lang)涌(yong)抗擾(rao)度(du)(du)試(shi)驗(yan)不同(tong)于考核(he)設(she)備(bei)高壓絕(jue)緣能力的(de)(de)(de)(de)耐壓試(shi)驗(yan)，電(dian)(dian)磁(ci)(ci)兼容(rong)圖片，前者jj是(shi)模擬間接(jie)雷擊的(de)(de)(de)(de)影響（直(zhi)接(jie)的(de)(de)(de)(de)雷擊設(she)備(bei)通(tong)常(chang)都(dou)無法承受(shou)）。1.2浪(lang)(lang)(lang)涌(yong)（沖(chong)擊）抗擾(rao)度(du)(du)試(shi)驗(yan)目的(de)(de)(de)(de) ? ?本標準的(de)(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)(de)是(shi)建立一(yi)(yi)個共同(tong)的(de)(de)(de)(de)基(ji)準，以評價電(dian)(dian)氣(qi)和電(dian)(dian)子設(she)備(bei)在遭受(shou)浪(lang)(lang)(lang)涌(yong)(沖(chong)擊)時的(de)(de)(de)(de)性(xing)(xing)能。本標準規(gui)定(ding)了一(yi)(yi)個一(yi)(yi)致(zhi)的(de)(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)方法，以評定(ding)設(she)備(bei)或(huo)系統對(dui)規(gui)定(ding)現象的(de)(de)(de)(de)抗擾(rao)度(du)(du)。