電感耦合等離(li)子質譜工作原理

質(zhi)(zhi)(zhi)譜(pu)(pu)分(fen)(fen)(fen)析(xi)法(fa)主要是通過對(dui)bai樣(yang)品的(de)(de)(de)(de)(de)離(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)的(de)(de)(de)(de)(de)質(zhi)(zhi)(zhi)荷(he)比的(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)(fen)du析(xi)而(er)實zhi現對(dui)樣(yang)品進行定性(xing)(xing)和(he)(he)(he)定量(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)dao一種(zhong)(zhong)方(fang)法(fa)。因此(ci)，質(zhi)(zhi)(zhi)譜(pu)(pu)儀都(dou)必須有(you)電離(li)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)把樣(yang)品電離(li)為離(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)，有(you)質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)(liang)分(fen)(fen)(fen)析(xi)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)把不同(tong)質(zhi)(zhi)(zhi)荷(he)比的(de)(de)(de)(de)(de)離(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)分(fen)(fen)(fen)開，經檢(jian)(jian)測(ce)器檢(jian)(jian)測(ce)之后(hou)可以(yi)得到樣(yang)品的(de)(de)(de)(de)(de)質(zhi)(zhi)(zhi)譜(pu)(pu)圖(tu)，由于有(you)機樣(yang)品，無機樣(yang)品和(he)(he)(he)同(tong)位素(su)樣(yang)品等具有(you)不同(tong)形態(tai)、性(xing)(xing)質(zhi)(zhi)(zhi)和(he)(he)(he)不同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)(fen)析(xi)要求，所以(yi)，電感耦合(he)等離(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)體質(zhi)(zhi)(zhi)譜(pu)(pu)儀生產廠家，所用的(de)(de)(de)(de)(de)電離(li)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)、質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)(liang)分(fen)(fen)(fen)析(xi)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)和(he)(he)(he)檢(jian)(jian)測(ce)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)有(you)所不同(tong)。但是，不管是哪種(zhong)(zhong)類型的(de)(de)(de)(de)(de)質(zhi)(zhi)(zhi)譜(pu)(pu)儀，其基本(ben)組成是相同(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)。都(dou)包括離(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)源、質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)(liang)分(fen)(fen)(fen)析(xi)器、檢(jian)(jian)測(ce)器和(he)(he)(he)真空系統

ICP-MS

由于在(zai)(zai)(zai)(zai)速度、靈敏度、動態(tai)范(fan)圍和元(yuan)素測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)范(fan)圍中(zhong)(zhong)(zhong)的(de)(de)優勢而(er)(er)處于的(de)(de)地位。能(neng)夠快速測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)高濃度的(de)(de)元(yuan)素(ppb到ppm級)的(de)(de)特點使(shi)其成(cheng)為(wei)AES的(de)(de)可行的(de)(de)替代(dai)方法。同(tong)(tong)時ICP-MS在(zai)(zai)(zai)(zai)許多痕量(liang)(liang)和超(chao)痕量(liang)(liang)元(yuan)素測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)定中(zhong)(zhong)(zhong)超(chao)越了石墨爐(lu)原子(zi)(zi)吸收光譜法(GFAAS)的(de)(de)檢出(chu)能(neng)力(li)(ppt級)。 ICP-MS能(neng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)幾乎所有(you)的(de)(de)樣(yang)品，并且實現(xian)了一(yi)(yi)次采集完成(cheng)多元(yuan)素同(tong)(tong)時測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)定，同(tong)(tong)時提(ti)供同(tong)(tong)位素的(de)(de)信息。形態(tai)分(fen)析是ICP-MS發(fa)展快的(de)(de)領(ling)域之一(yi)(yi)，國產電(dian)(dian)感耦(ou)合(he)等離(li)(li)子(zi)(zi)體質譜儀(yi)生產廠家(jia)，即色譜技術與ICP-MS的(de)(de)聯用(yong)(yong)。其中(zhong)(zhong)(zhong)ICP-MS作(zuo)為(wei)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)定樣(yang)品中(zhong)(zhong)(zhong)元(yuan)素的(de)(de)化學(xue)價態(tai)。這些(xie)性能(neng)有(you)助于實現(xian)ICP-MS在(zai)(zai)(zai)(zai)所有(you)領(ling)域的(de)(de)廣泛應(ying)用(yong)(yong)，吉(ji)天電(dian)(dian)感耦(ou)合(he)等離(li)(li)子(zi)(zi)體質譜儀(yi)生產廠家(jia)，而(er)(er)且確立了ICP-MS在(zai)(zai)(zai)(zai)痕量(liang)(liang)金屬檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)技術中(zhong)(zhong)(zhong)的(de)(de)重(zhong)要地位。

電感耦合簡介

測定超痕量(liang)元素和同位素比(bi)值(zhi)的儀器(qi)。由樣品引入(ru)系統、等離(li)(li)子體離(li)(li)子源系統、離(li)(li)子聚焦和傳輸系統、質量(liang)分析器(qi)系統和離(li)(li)子檢測系統組(zu)成(cheng)。

具有很低的(de)檢(jian)出限(達ng/ml或更低)，高(gao)分(fen)辨電感耦合等離(li)子體(ti)質譜儀生產(chan)廠家，基體(ti)效應小、譜線簡單，能(neng)同(tong)時測(ce)定許多元素(su)，動態線性范圍(wei)寬及(ji)能(neng)快速測(ce)定同(tong)位素(su)比(bi)值(zhi)。地(di)質學中(zhong)(zhong)用(yong)于(yu)測(ce)定巖(yan)石(shi)、礦石(shi)、礦物(wu)、包裹體(ti)。地(di)下水中(zhong)(zhong)微量(liang)、痕(hen)量(liang)和超(chao)痕(hen)量(liang)的(de)金(jin)屬(shu)元素(su)，某些鹵(lu)素(su)元素(su)、非金(jin)屬(shu)元素(su)及(ji)元素(su)的(de)同(tong)位素(su)比(bi)值(zhi)。