ICP-MS簡述

20世紀60年代末期，采用電感耦合等離子體源的原子光譜技術成為當時應用于微量元素分析的一項非常有前

途的技術（Greenfield等，1964； Wendt與Fassel， 1965）。但在分析超低含量物質時由于背景光譜增強，光譜干擾

嚴重使分析靈敏度和準確度達不到要求。只有質譜法能同時滿足譜圖簡單、分辨率適中和較低檢出限的要求。因此， ICP-AES所具有的樣品易于引入、分析速度快、多元素同時分析的特點與質譜儀的聯用成為科學和商業上研究的

熱點。1970年許多公司深入的參與了該技術的研究，CP作為發射源使等離子體中分析物有效電離能夠滿足新一代

儀器源的要求。同時也注意到惰性氣體在大氣壓下的電等離子體可能是一個很好的離子源。因此人們采用四極桿 質量分析器和通道式離子檢測器開展可行性研究。Gral在70年代中期首先報道了用等離子體作為離子源的質譜分 析法。1981年Gray在Surrey實驗室設計完成了 ICP源上所預期性能的設備，獲得了張ICP譜圖。1983年英 國VG公司與加拿***ciex公司推出商業化的ICP-MS，1984年在用戶實驗室才安裝ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化學分析中廣泛應用開來。

ICP-MS 質譜儀是一種常用的元素分析和同位素分析儀器，它可以同時分析多種元素，并提供元素的同位素組成信息。下面是使用 ICP-MS 質譜儀進行元素分析和同位素分析的一般步驟：

樣品前處理：將樣品進行適當的前處理，以便將待測元素從基體中分離出來，并將其轉化為易于電離的形式。常用的前處理方法包括濕法消解、干法灰化、微波消解等。

進樣：將前處理后的樣品引入 ICP-MS 質譜儀中。常用的進樣方法包括液體進樣、氣體進樣和固體進樣等。

電離和傳輸：在 ICP-MS 質譜儀中，樣品被電離成離子，并通過質譜儀的離子傳輸系統傳輸到質量分析器中。

質量分析：在質量分析器中，離子被分離成不同的質量數，并通過檢測器檢測到。常用的質量分析器包括四極桿、飛行時間質譜儀等。

數據處理和分析：ICP-MS 質譜儀產生的數據需要進行適當的數據處理和分析，以獲得待測元素的濃度和同位素組成信息。常用的數據處理和分析軟件包括 Masslynx、ICP-MS Data Analysis、ICP-OES Data Analysis 等。

需要注意的是，ICP-MS 質譜儀的使用需要經過培訓和授權，并且需要嚴格遵守操作規程和安全注意事項。

查看儀器狀態欄和報警信息：儀器的控制界面上通常會顯示狀態欄和報警信息，這些可以提供關于故障或異常的初步線索。

回顧近期操作記錄：檢查近的操作記錄，包括樣品處理、參數設置等，看是否有異常操作或變化。

檢查氣源和氣源壓力：確保氣源供應正常，氣源壓力在合適的范圍內。

檢查樣品引入系統：檢查、毛細管等部件是否堵塞或有泄漏。

檢查真空系統：確保真空泵正常工作，真空度是否達到要求。

重新校準和校正：嘗試進行儀器的校準和校正，以排除測量誤差。

清洗和維護：對可能受污染的部件進行清洗，如離子源、接口等。

重啟儀器：有時候，電感耦合等離子體質譜儀廠家，簡單地重啟儀器可能會解決一些臨時的故障。

參考儀器手冊：查閱儀器的操作手冊和故障排除指南，尋找針對特定故障的解決方案。

聯系技術支持：如果自己無法解決問題，及時聯系儀器制造商的技術支持團隊，他們可以提供的指導和維修服務。