目前大部分(fen)CCD視覺(jue)檢測(ce)系統都采用LED做為(wei)(wei)外(wai)部光源(yuan)，宣城CCD視覺(jue)測(ce)試設備，實(shi)際上(shang)在(zai)(zai)使用在(zai)(zai)當外(wai)部光源(yuan)照明不均勻、有突(tu)變(bian)噪音(yin)或(huo)者背景灰度(du)變(bian)化比(bi)較(jiao)大時整幅(fu)圖像分(fen)割將(jiang)沒有?適合的(de)(de)(de)(de)(de)單一(yi)(yi)(yi)閾(yu)值(zhi)因為(wei)(wei)單一(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)閾(yu)值(zhi)不能(neng)兼顧(gu)圖像各個(ge)像素的(de)(de)(de)(de)(de)實(shi)際情況。這時可對(dui)圖?像按照坐標(biao)分(fen)塊對(dui)每一(yi)(yi)(yi)個(ge)分(fen)別選取一(yi)(yi)(yi)個(ge)閾(yu)值(zhi)進行分(fen)割這種與坐標(biao)相關的(de)(de)(de)(de)(de)閾(yu)值(zhi)稱(cheng)為(wei)(wei)?動(dong)態閾(yu)值(zhi)法(fa)。這類算(suan)法(fa)的(de)(de)(de)(de)(de)時間復雜度(du)和空間復雜度(du)比(bi)較(jiao)大但是抗噪音(yin)能(neng)力較(jiao)強(qiang)對(dui)?采用全局閾(yu)值(zhi)不容易分(fen)割的(de)(de)(de)(de)(de)圖像有比(bi)較(jiao)好的(de)(de)(de)(de)(de)效果。動(dong)態閾(yu)值(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)選取比(bi)較(jiao)簡(jian)單的(de)(de)(de)(de)(de)法(fa)則是對(dui)每個(ge)像素確定以它為(wei)(wei)中(zhong)心的(de)(de)(de)(de)(de)一(yi)(yi)(yi)個(ge)鄰域窗(chuang)口?計(ji)算(suan)窗(chuang)口內像素的(de)(de)(de)(de)(de)值(zhi)和值(zhi)然后取它們(men)的(de)(de)(de)(de)(de)均值(zhi)作為(wei)(wei)閾(yu)值(zhi)。

圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)處(chu)理(li)方(fang)法(fa)(fa)的(de)(de)研究由于對(dui)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)處(chu)理(li)要求的(de)(de)不同(tong)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)處(chu)理(li)方(fang)法(fa)(fa)多種多樣主(zhu)要有圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)變換、圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)增(zeng)?強(qiang)、圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)銳(rui)化、圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)分(fen)(fen)(fen)割(ge)與(yu)特征提取(qu)等(deng)多種方(fang)法(fa)(fa)。針對(dui)本文所設計的(de)(de)CCD顯(xian)微放(fang)大測(ce)(ce)?量(liang)系統為(wei)達到測(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)目(mu)的(de)(de)需對(dui)插針圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)進行(xing)圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)分(fen)(fen)(fen)割(ge)、平滑去(qu)除噪(zao)(zao)聲、二值(zhi)化等(deng)處(chu)理(li)。在圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)處(chu)理(li)方(fang)法(fa)(fa)的(de)(de)原(yuan)理(li)進行(xing)了較(jiao)詳盡的(de)(de)介紹(shao)。在本文所計的(de)(de)這個CCD顯(xian)微放(fang)大測(ce)(ce)量(liang)系統中圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)處(chu)理(li)的(de)(de)關鍵在于圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)分(fen)(fen)(fen)割(ge)和(he)去(qu)噪(zao)(zao)聲、二值(zhi)化。研究采用基于閾(yu)值(zhi)和(he)動態閾(yu)值(zhi)分(fen)(fen)(fen)割(ge)方(fang)法(fa)(fa)、鄰域平均去(qu)噪(zao)(zao)?聲的(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)編(bian)程處(chu)理(li)CCD圖(tu)(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)。

作(zuo)出(chu)命令定位引(yin)導及自動(dong)裝配，CCD視覺測(ce)試設備銷售，即告訴執行者如(ru)機械手去何處(chu)拿(na)什么(me)東(dong)西并放到何處(chu)；

缺(que)(que)陷檢(jian)(jian)測，即檢(jian)(jian)測產品的各種(zhong)缺(que)(que)陷，如大小，位(wei)置，CCD視覺測試設(she)備廠家(jia)，有無、損傷(shang)等；

測(ce)量，CCD視(shi)覺(jue)測(ce)試設備價格，即目標物體的幾何形狀測(ce)量；

識別，即認識物體的內容，如(ru)一維碼二維碼，字符文字等；

這些技術廣泛應(ying)用于工業（產品質量）、（制導）、（生理再現）等(deng)領域！

那么它(ta)是如何在產線上進行工作的呢？