一、試塊的尺寸規范

1.不同(tong)類型的(de)試塊應按照相關(guan)標準和(he)規范確(que)定其(qi)尺寸(cun)。

2.在(zai)制作(zuo)試塊時，標準試塊廠(chang)家，應嚴格按(an)照允(yun)許誤差(cha)范圍(wei)內的標準尺(chi)寸進行切(qie)割和(he)加工。

3.試塊的尺(chi)寸(cun)應符合(he)質檢要(yao)求，不應有明顯的尺(chi)寸(cun)偏差和不合(he)格的尺(chi)寸(cun)現

象。

二、試塊的材料規范

1.試塊的(de)材料應符合(he)相關產(chan)品(pin)標準(zhun)，并通(tong)過質檢部門]的(de)檢驗合(he)格。

2.不同(tong)類型的試塊可(ke)能需要使用(yong)不同(tong)材料，應(ying)根據具(ju)體要求選用(yong)相(xiang)應(ying)的標準

材料。

3.在(zai)試(shi)塊的制作過程(cheng)中，材(cai)料應保(bao)持干燥、清潔，杜l絕雜質和水分的污(wu)染。

超(chao)聲(sheng)波試(shi)(shi)塊(kuai)描述： ?按(an)一(yi)定用(yong)途設計制作(zuo)的具(ju)有簡單幾何形狀人工反(fan)射體的試(shi)(shi)樣，通常稱為試(shi)(shi)塊(kuai)。超(chao)聲(sheng)波試(shi)(shi)塊(kuai)和儀(yi)器探頭一(yi)樣，是超(chao)聲(sheng)檢測中的重要工具(ju)。

超聲波試塊的作用

1. 超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波試塊用于確定檢測(ce)(ce)靈(ling)敏度(du)(du)，超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波檢測(ce)(ce)靈(ling)敏度(du)(du)太(tai)(tai)高或太(tai)(tai)低(di)都(dou)不好，靈(ling)敏度(du)(du)太(tai)(tai)高雜波多，辨別(bie)缺陷困難，靈(ling)敏度(du)(du)太(tai)(tai)低(di)會(hui)引起漏檢，因此在超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波檢測(ce)(ce)前，常用超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波試塊上某一特定的人工反(fan)射(she)體來調整檢測(ce)(ce)靈(ling)敏度(du)(du)。

2. 超聲波試塊(kuai)用來測(ce)定(ding)儀器和探(tan)頭(tou)的(de)(de)性(xing)(xing)能，超聲波檢測(ce)儀和探(tan)頭(tou)的(de)(de)重要(yao)性(xing)(xing)能，如放大線(xian)性(xing)(xing)，水平線(xian)性(xing)(xing)，動態范圍，靈敏度余量(liang)，分辯力，盲(mang)區，探(tan)頭(tou)的(de)(de)入射(she)點，K值等都是用超聲波試塊(kuai)來測(ce)定(ding)的(de)(de)。

3. 超聲(sheng)波試塊用(yong)來調整掃描(miao)速度，利用(yong)超聲(sheng)波試塊可(ke)以調整儀(yi)器示波屏上(shang)水(shui)平刻(ke)度值與實際聲(sheng)程之間的比例關系(xi)，即(ji)掃描(miao)速度，以便對缺(que)陷進行定位(wei)。

4. 超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)試塊用(yong)來評判(pan)缺陷(xian)大小，利用(yong)某些超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)試塊繪制出距離波(bo)幅曲(qu)線來對(dui)缺陷(xian)定量(liang)是(shi)目前常(chang)用(yong)的(de)定量(liang)方法(fa)之一，特別是(shi)三倍近(jin)場區以(yi)內的(de)缺陷(xian)，采(cai)用(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)試塊比(bi)較法(fa)仍然是(shi)zui有效的(de)定量(liang)方法(fa)。

此(ci)外超聲波試塊還可以被利(li)用來測(ce)量材(cai)料的(de)聲速衰減性(xing)能等。

超聲波試塊的分類

按超聲波試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)的來歷分：1.標(biao)(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)：標(biao)(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)是由機構制(zhi)(zhi)定(ding)的超聲波試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)，超聲波試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)的材(cai)(cai)質、形狀尺寸及(ji)表(biao)面狀態都有部門統(tong)(tong)一制(zhi)(zhi)定(ding)。用(yong)(yong)于(yu)儀器探頭系統(tong)(tong)性能校準(zhun)和檢測(ce)校準(zhun)。如焊(han)接(jie)學(xue)會的IIW試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)和IIW2試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)，鋼(gang)板用(yong)(yong)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)CBI CBII，鍛件用(yong)(yong)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)CSI，CSII，CSIII焊(han)接(jie)接(jie)頭用(yong)(yong)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)，CSKIA，CSKIIA，CSKIIIA，CSKIVA.標(biao)(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)應(ying)采用(yong)(yong)與被檢工件聲學(xue)性能相同或近似的材(cai)(cai)料(liao)組成(cheng)，該材(cai)(cai)料(liao)用(yong)(yong)直(zhi)探頭檢測(ce)時，不得(de)有大于(yu)直(zhi)徑2的平底(di)孔當量缺(que)陷(xian)。標(biao)(biao)(biao)準(zhun)試(shi)(shi)(shi)(shi)塊(kuai)(kuai)(kuai)(kuai)尺寸精度應(ying)符合標(biao)(biao)(biao)準(zhun)的要(yao)求，并(bing)應(ying)經*檢定(ding)合格。

2.對比試(shi)塊(kuai)，對比試(shi)塊(kuai)是指(zhi)用于檢測校準的(de)(de)(de)試(shi)塊(kuai)，對比試(shi)塊(kuai)的(de)(de)(de)外形尺寸應(ying)(ying)能(neng)代表(biao)被檢工件的(de)(de)(de)特征，試(shi)塊(kuai)厚度(du)應(ying)(ying)與被檢工件的(de)(de)(de)厚度(du)相對應(ying)(ying)。如果(guo)涉及到(dao)兩種或兩種以上不同厚度(du)部(bu)件焊接(jie)接(jie)頭進行檢測時(shi)，試(shi)塊(kuai)的(de)(de)(de)厚度(du)應(ying)(ying)由其zui大厚度(du)來確定。