Phasc12測(ce)試(shi)(shi)來的(de)(de)(de)數(shu)據(ju)(ju)，設備(bei)失效分(fen)(fen)析，器(qi)(qi)件(jian)(jian)有四(si)個(ge)(ge)(ge)層次(ci)。其中個(ge)(ge)(ge)是(shi)芯片下的(de)(de)(de)粘接(jie)層的(de)(de)(de)阻抗(kang)值，后面Tau是(shi)完成的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)時間，四(si)個(ge)(ge)(ge)層次(ci)的(de)(de)(de)阻抗(kang)值之和就是(shi)這個(ge)(ge)(ge)器(qi)(qi)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)熱(re)阻值。并且每一-個(ge)(ge)(ge)拐點(dian) 都表(biao)明(ming)熱(re)進入(ru)了一個(ge)(ge)(ge)新的(de)(de)(de)層次(ci)。每個(ge)(ge)(ge)層次(ci)的(de)(de)(de)數(shu)據(ju)(ju)將表(biao)明(ming)這個(ge)(ge)(ge)器(qi)(qi)件(jian)(jian)不同(tong)(tong)層向外散熱(re)的(de)(de)(de)好壞(huai)，對不同(tong)(tong)廠(chang)家(jia)(jia)同(tong)(tong)類產(chan)(chan)品而(er)(er)言(yan)，可(ke)以讓(rang)我們選擇熱(re)阻值非(fei)常好的(de)(de)(de)廠(chang)家(jia)(jia);同(tong)(tong)時它也可(ke)以檢測(ce)同(tong)(tong)- ~廠(chang)家(jia)(jia)，同(tong)(tong)類產(chan)(chan)品，失效分(fen)(fen)析儀器(qi)(qi)，不同(tong)(tong)批次(ci)質量的(de)(de)(de)差異(yi)，從而(er)(er)評測(ce)出該廠(chang)家(jia)(jia)生產(chan)(chan)工藝的(de)(de)(de)穩定性。主要用于測(ce)試(shi)(shi)二極(ji)管，三(san)極(ji)管，線形調(diao)壓器(qi)(qi)，可(ke)控硅(gui)，LED， MOSFET，失效分(fen)(fen)析設備(bei)，MESFET ，IGBT，IC等分(fen)(fen)立功率(lv)器(qi)(qi)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)熱(re)阻測(ce)試(shi)(shi)及(ji)分(fen)(fen)析。

Phase 熱(re)阻測試儀主(zhu)要特點

1.提供符(fu)合MIL&JEDEC的標(biao)準測試環境

2.提供(gong)Rja、Rjb、Rjc、熱阻參數

3.高可提(ti)供200A，4000W電源系(xi)統

4.可測試各種封裝類型的熱阻

5.可(ke)測試(shi)元(yuan)器件的穩態(tai)(tai)及瞬態(tai)(tai)熱阻(zu)

6.可對芯片焊接(jie)進行篩選評估

三、優點

1.增強瞬態測試能(neng)力

2.較高的數(shu)據(ju)和處理速度

3.單獨為(wei)改善無障礙(ai)改造(zao)或(huo)修理

4.兼(jian)容所有(you)現有(you)的分析技術(shu)的夾具

5.緊湊的設計

微焦點X射線檢測

主要技術參數：

1、開放式球管(guan)射線源，蘇州失效分析，高管(guan)電壓160kV，大(da)管(guan)電流1mA，大(da)靶功率7W

2、焦點尺寸2μm

3、探測(ce)器傾斜角(jiao)度為±70°，圖像≥100萬像素，灰度等級為16位

4、載(zai)物臺可繞旋轉軸360度旋轉

5、大可檢測樣品重(zhong)量5Kg

6、大可檢測(ce)樣品尺寸為

460mm×410mm×300mm

用途：可用于半導(dao)體產品(pin)、微電子元(yuan)件、電路板焊接器件等(deng)電子產品(pin)焊點質量檢測及多余物(wu)檢測，也可進(jin)行小(xiao)直徑管焊縫質量檢測。