本(ben)公司專注于三維激光掃(sao)描測量、傳(chuan)統(tong)工程(cheng)測繪、數(shu)據分析、建模等，為BIM設(she)計、城市規(gui)劃、工程(cheng)建設(she)、古建遺產數(shu)字化(hua)檔案提供服務。

三維(wei)掃描(miao)儀(yi)的發展歷程

1、三(san)維掃描儀：點(dian)測(ce)量(liang)。代表(biao)系(xi)統有：三(san)坐標測(ce)量(liang)儀;點(dian)激光測(ce)量(liang)儀;關(guan)節(jie)臂掃描儀(精(jing)度(du)(du)(du)不高)通過每一(yi)次的測(ce)量(liang)點(dian)反映物體(ti)(ti)表(biao)面(mian)特征(zheng)，優(you)點(dian)是精(jing)度(du)(du)(du)高，但速度(du)(du)(du)慢(man)，如果要做逆向工程，只能在(zai)測(ce)量(liang)高形(xing)位(wei)公(gong)差(cha)要求的物體(ti)(ti)上有優(you)勢。定義：適合做物體(ti)(ti)表(biao)面(mian)形(xing)位(wei)公(gong)差(cha)檢測(ce)用。

2、三維掃描儀(yi)：線(xian)測量。代表系(xi)統有(you)：三維臺式激光(guang)掃描儀(yi)，三維手持式激光(guang)掃描儀(yi)，關節臂+激光(guang)掃描頭。通(tong)(tong)過(guo)一段(一般為幾(ji)公分，激光(guang)線(xian)過(guo)長會發散)有(you)效的激光(guang)線(xian)照射物體表面(mian)，再通(tong)(tong)過(guo)傳(chuan)感器得到物體表面(mian)數據信(xin)息。定義：適合掃描中小件物體，掃描景深小(一般只有(you)5公分)，精度(du)較高(gao)，此代系(xi)統是(shi)發展比較成熟的，其(qi)新產品(pin)的已(yi)經(jing)達到0.01微米。所以，精度(du)上，其(qi)比肩點掃描。速度(du)上已(yi)有(you)極大地提(ti)高(gao)。在工(gong)業設計領域，將有(you)廣闊用途。

3、三(san)維(wei)掃(sao)(sao)描儀：面(mian)掃(sao)(sao)描。代表(biao)系(xi)統：拍照式三(san)維(wei)掃(sao)(sao)描儀，三(san)維(wei)攝影測量系(xi)統等。通過一組(zu)(一面(mian)光)光柵(zha)的位(wei)移(yi)，再同時經(jing)過傳感器(qi)而采(cai)1集到物體表(biao)面(mian)的數據信息。

本(ben)公(gong)司(si)專注于三維激光掃描測量、傳統工程測繪、數(shu)據分析、建(jian)模等，為(wei)BIM設計、城(cheng)市規劃、工程建(jian)設、古建(jian)遺(yi)產數(shu)字化檔案提供服務。

三維激光掃描儀(yi)基本(ben)功能

無臂式手持 3D 掃描系統和(he)雙(shuang)攝像頭傳感器形成(cheng)(cheng)了(le)一個的(de)組合，確保(bao)在(zai)實驗室(shi)和(he)工作(zuo)場所能生成(cheng)(cheng)精1確的(de)測量值。 這一完(wan)(wan)備(bei)且功(gong)能強大的(de)檢測方(fang)案(an)提(ti)高了(le)測量過程的(de)可靠性、速(su)度和(he)多(duo)功(gong)能性。 在(zai)鉸接臂方(fang)面與(yu)其他 3D 掃描儀相比(bi)較，光學 3D 掃描系統可以完(wan)(wan)全自由移動，顯著提(ti)高了(le)工作(zuo)效(xiao)率和(he)質量！

本(ben)公司專注于三維激光(guang)掃描測量、傳統工程(cheng)測繪、數據分析、建(jian)(jian)模等，為BIM設(she)計(ji)、城市(shi)規劃、工程(cheng)建(jian)(jian)設(she)、古建(jian)(jian)遺產數字化(hua)檔案提服務。

三坐標測量原理

三坐標原理

三(san)(san)坐標(biao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量機(ji)是由(you)三(san)(san)個互相垂直的(de)運動(dong)軸(zhou)X，Y，Z建(jian)立起的(de)一(yi)個直角坐標(biao)系(xi)，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭的(de)一(yi)切運動(dong)都在這個坐標(biao)系(xi)中進(jin)行，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭的(de)運動(dong)軌跡(ji)由(you)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)球(qiu)中心(xin)來表(biao)示(shi)。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量時，全站儀，把被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)零(ling)件(jian)凡放在工(gong)作臺上，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭與零(ling)件(jian)表(biao)面接觸，三(san)(san)坐標(biao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量機(ji)的(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系(xi)統可(ke)以(yi)隨時給出(chu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)球(qiu)中心(xin)點在坐標(biao)系(xi)中的(de)精1確(que)位(wei)置(zhi)。當(dang)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)球(qiu)沿(yan)著(zhu)工(gong)件(jian)的(de)幾何(he)型面移(yi)動(dong)時，就可(ke)以(yi)精1確(que)地的(de)計算出(chu)被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)工(gong)件(jian)的(de)幾何(he)尺(chi)寸，現狀和位(wei)置(zhi)公差等。