如何為(wei)您的(de)(de)應(ying)用(yong)配置(zhi)光(guang)譜(pu)儀？根據應(ying)用(yong)領(ling)域的(de)(de)不(bu)同，用(yong)戶必須對(dui)采用(yong)模(mo)塊化(hua)設計選(xuan)擇合(he)適的(de)(de)光(guang)柵、狹縫、探測(ce)器(qi)和其它選(xuan)件。波長范(fan)圍(wei)(wei)在為(wei)一臺光(guang)譜(pu)儀系統選(xuan)擇優(you)化(hua)配置(zhi)的(de)(de)時(shi)候(hou)，波長范(fan)圍(wei)(wei)是決定光(guang)柵型號的(de)(de)首(shou)先(xian)要(yao)考慮(lv)的(de)(de)重要(yao)參(can)數。另(ling)一個重要(yao)元(yuan)件是探測(ce)器(qi)的(de)(de)選(xuan)擇，原子吸(xi)收檢測(ce)儀，對(dui)于紫(zi)(zi)外（UV）波段的(de)(de)應(ying)用(yong)，可以(yi)(yi)選(xuan)用(yong)深紫(zi)(zi)外（DUV）增強型2048或者3648像素CCD探測(ce)器(qi)。在近紅(hong)外（NIR）波段，有(you)兩種(zhong)不(bu)同的(de)(de)InGaAs探測(ce)器(qi)可以(yi)(yi)選(xuan)擇。如果您既(ji)需(xu)要(yao)較寬的(de)(de)波長范(fan)圍(wei)(wei)同時(shi)又需(xu)要(yao)高(gao)分(fen)辨率，則多通道光(guang)譜(pu)儀是佳(jia)的(de)(de)選(xuan)擇。

便攜(xie)式光(guang)譜儀(yi)(yi)(yi)是一種(zhong)功(gong)能強(qiang)大的(de)(de)(de)(de)(de)科學儀(yi)(yi)(yi)器(qi)，工業檢測(ce)儀(yi)(yi)(yi)，廣(guang)泛應用(yong)(yong)于(yu)多(duo)(duo)個(ge)(ge)領(ling)(ling)域(yu)。以(yi)下(xia)是其(qi)主要(yao)用(yong)(yong)途的(de)(de)(de)(de)(de)概述：1.**金(jin)屬(shu)及其(qi)合(he)金(jin)分(fen)(fen)析(xi)**:便攜(xie)式光(guang)譜儀(yi)(yi)(yi)能夠對(dui)Fe、Al、Cu等(deng)(deng)多(duo)(duo)種(zhong)金(jin)屬(shu)及其(qi)合(he)金(jin)的(de)(de)(de)(de)(de)樣(yang)品進行(xing)準確的(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)析(xi)和(he)(he)(he)(he)(he)檢測(ce)，包括片(pian)狀(zhuang)、塊狀(zhuang)以(yi)及棒狀(zhuang)的(de)(de)(de)(de)(de)固體樣(yang)品中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)非金(jin)屬(shu)元素（如C、P、S等(deng)(deng)）以(yi)及各(ge)類(lei)金(jin)屬(shu)元素的(de)(de)(de)(de)(de)定量分(fen)(fen)析(xi)。通過(guo)高精(jing)度的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)試電(dian)路(lu)和(he)(he)(he)(he)(he)多(duo)(duo)CCD檢測(ce)系統等(deng)(deng)技術手段提(ti)供出(chu)色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)精(jing)密度與準確度。2.**地質(zhi)勘探與環(huan)(huan)境監(jian)測(ce)**:該設備還(huan)可用(yong)(yong)于(yu)礦物(wu)探勘和(he)(he)(he)(he)(he)環(huan)(huan)境評估中(zhong)(zhong)重(zhong)(zhong)金(jin)屬(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)檢測(ce)和(he)(he)(he)(he)(he)分(fen)(fen)析(xi)，棱鏡檢測(ce)儀(yi)(yi)(yi)，有助(zhu)于(yu)識別(bie)地下(xia)礦藏(zang)的(de)(de)(de)(de)(de)類(lei)型和(he)(he)(he)(he)(he)內容物(wu)含量以(yi)及對(dui)環(huan)(huan)境污(wu)染物(wu)進行(xing)檢測(ce)和(he)(he)(he)(he)(he)控(kong)制，蘇州檢測(ce)儀(yi)(yi)(yi)，為(wei)環(huan)(huan)境保護(hu)和(he)(he)(he)(he)(he)資源開發(fa)提(ti)供支(zhi)持。3.**生產(chan)(chan)過(guo)程(cheng)控(kong)制與質(zhi)量檢驗**:在(zai)冶金(jin)、鑄造、機械制造等(deng)(deng)領(ling)(ling)域(yu)的(de)(de)(de)(de)(de)生產(chan)(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong)(zhong)，便攜(xie)式光(guang)譜儀(yi)(yi)(yi)可用(yong)(yong)于(yu)實(shi)時監(jian)測(ce)原材(cai)料和(he)(he)(he)(he)(he)產(chan)(chan)品成(cheng)分(fen)(fen)的(de)(de)(de)(de)(de)變化情況(kuang)確保產(chan)(chan)品質(zhi)量和(he)(he)(he)(he)(he)生產(chan)(chan)過(guo)程(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)穩定性(xing)；在(zai)中(zhong)(zhong)心實(shi)驗室成(cheng)品檢驗環(huan)(huan)節也發(fa)揮著(zhu)重(zhong)(zhong)要(yao)作用(yong)(yong)保障產(chan)(chan)品出(chu)廠(chang)質(zhi)量符合(he)標準要(yao)求；此外它還(huan)能適應各(ge)種(zhong)復雜環(huan)(huan)境的(de)(de)(de)(de)(de)檢測(ce)需要(yao)滿足多(duo)(duo)種(zhong)應用(yong)(yong)場合(he)的(de)(de)(de)(de)(de)需求。4.**其(qi)他應用(yong)(yong)領(ling)(ling)域(yu)**:除(chu)了上述主要(yao)應用(yong)(yong)外手持式或便捷式的(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)普(pu)分(fen)(fen)析(xi)器(qi)還(huan)被廣(guang)泛應用(yong)(yong)于(yu)材(cai)料科學研(yan)究研(yan)發(fa)考古(gu)學文化遺產(chan)(chan)保護(hu)等(deng)(deng)多(duo)(duo)個(ge)(ge)方(fang)面展(zhan)(zhan)現出(chu)其(qi)在(zai)各(ge)個(ge)(ge)領(ling)(ling)域(yu)中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)重(zhong)(zhong)要(yao)價值(zhi)和(he)(he)(he)(he)(he)作用(yong)(yong)潛力隨著(zhu)科技的(de)(de)(de)(de)(de)不斷(duan)進步和(he)(he)(he)(he)(he)發(fa)展(zhan)(zhan)相(xiang)信這(zhe)種(zhong)設備的(de)(de)(de)(de)(de)功(gong)能和(he)(he)(he)(he)(he)性(xing)能將會得到進一步的(de)(de)(de)(de)(de)提(ti)升和(he)(he)(he)(he)(he)完善以(yi)滿足更(geng)多(duo)(duo)領(ling)(ling)域(yu)的(de)(de)(de)(de)(de)研(yan)究和(he)(he)(he)(he)(he)應用(yong)(yong)需求。

背照(zhao)式(shi)光(guang)(guang)譜儀是一(yi)種基(ji)于光(guang)(guang)電效應(ying)的(de)(de)光(guang)(guang)學檢測(ce)(ce)儀器(qi)，它可以用(yong)于測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)各種物理現(xian)象中的(de)(de)光(guang)(guang)子能量(liang)(liang)(liang)、波長和(he)強度等信息。根據不(bu)同(tong)的(de)(de)應(ying)用(yong)場景和(he)應(ying)用(yong)需求可以選擇不(bu)同(tong)類型的(de)(de)背照(zhao)式(shi)的(de)(de)光(guang)(guang)學系統(tong)來(lai)組成相應(ying)的(de)(de)測(ce)(ce)控設備(bei)或測(ce)(ce)試平(ping)(ping)臺其中常(chang)見的(de)(de)分類如下：1.平(ping)(ping)行板(ban)型/面陣列探(tan)測(ce)(ce)器(qi)型的(de)(de)掃(sao)描(miao)干涉計量(liang)(liang)(liang)系統(tong)中常(chang)用(yong)的(de)(de)類型之(zhi)一(yi)；2多通道平(ping)(ping)面CCD線掃(sao)丈量(liang)(liang)(liang)系統(tong)的(de)(de)激光(guang)(guang)雷(lei)達中常(chang)使(shi)(shi)用(yong)該(gai)類方法進(jin)行目標跟蹤與定位3.雙前射(she)單反射(she)鏡(jing)平(ping)(ping)臺的(de)(de)投影(ying)法原(yuan)理的(de)(de)體全(quan)息譜相襯顯微術(shu)中所使(shi)(shi)用(yong)的(de)(de)種類之(zhi)一(yi)的(de)(de)衍射(she)計4.全(quan)景傅立(li)葉變換共聚焦拉曼成像(xiang)系統(tong)和(he)7立(li)體三維輪廓表面形(xing)貌(mao)測(ce)(ce)定裝(zhuang)置