本公司專注于三維激光掃描測量、傳統工(gong)程(cheng)測繪(hui)、數據(ju)分析、建模等，為BIM設計、城市規劃、工(gong)程(cheng)建設、古建遺產(chan)數字化檔案提供服務 。

三維激(ji)光(guang)掃描儀應用領(ling)域(yu)

（1）測(ce)繪(hui)工(gong)程(cheng)領域：大壩(ba)和電(dian)站基礎地形測(ce)量、公路(lu)(lu)測(ce)繪(hui)，鐵路(lu)(lu)測(ce)繪(hui)，河(he)道(dao)測(ce)繪(hui)，橋(qiao)梁(liang)、建筑物(wu)地基等測(ce)繪(hui)、隧道(dao)的檢測(ce)及變(bian)形監(jian)測(ce)、大壩(ba)的變(bian)形監(jian)測(ce)、隧道(dao)地下工(gong)程(cheng)結構、測(ce)量礦山(shan)及體積計算(suan)。

（2）結(jie)構(gou)測(ce)(ce)(ce)(ce)量方面：橋(qiao)梁改擴建工程、橋(qiao)梁結(jie)構(gou)測(ce)(ce)(ce)(ce)量、結(jie)構(gou)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)、監測(ce)(ce)(ce)(ce)、幾(ji)何尺寸(cun)測(ce)(ce)(ce)(ce)量、空(kong)間位置沖突測(ce)(ce)(ce)(ce)量、空(kong)間面積、體積測(ce)(ce)(ce)(ce)量、三維高(gao)保真建模(mo)、海上平臺、測(ce)(ce)(ce)(ce)量造(zao)船廠(chang)、電廠(chang)、化工廠(chang)等大(da)型(xing)工業企業內部(bu)設備(bei)的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量；管道(dao)、線(xian)路測(ce)(ce)(ce)(ce)量、各類機械(xie)制造(zao)安裝。

本公司專注于三維激光掃(sao)描測量、傳統工程(cheng)測繪(hui)、數(shu)據(ju)分析、建模等，為BIM設(she)計、城市規劃、工程(cheng)建設(she)、古(gu)建遺產數(shu)字化檔案(an)提服(fu)務。

三維掃掃描儀使用常見(jian)問題(ti)

1.翻開掃(sao)描儀(yi)(yi)開關時，掃(sao)描儀(yi)(yi)宣布反常響聲。這是因為有(you)些類型(xing)的掃(sao)描儀(yi)(yi)有(you)鎖，其意圖是為了鎖緊鏡組(zu)，避免運送(song)中轟動，因此在(zai)翻開掃(sao)描儀(yi)(yi)電源開關前應先將鎖翻開。

2.掃(sao)(sao)描儀(yi)接電后(hou)沒(mei)有任何反響。有些類(lei)型的掃(sao)(sao)描儀(yi)是節能(neng)型的，只要在進入掃(sao)(sao)描界面(mian)后(hou)燈管才(cai)會亮，一旦退出(chu)后(hou)會主動(dong)平息。 ? ? ? 3.掃(sao)(sao)描時顯現(xian)“沒(mei)有找到掃(sao)(sao)描儀(yi)”。此(ci)表(biao)象有可能(neng)是因為(wei)先開(kai)主機，全站(zhan)儀(yi)，后(hou)開(kai)掃(sao)(sao)描儀(yi)所致使，可重新啟動(dong)計算(suan)機或在設(she)備管理中改寫即(ji)可。

4.掃描儀的(de)分辨率與打印機的(de)分辨率是(shi)(shi)不是(shi)(shi)是(shi)(shi)一(yi)個(ge)概念；如何依據掃描儀的(de)分辨率選購(gou)打印機。

本公司專注于三維激光掃描測量、傳(chuan)統工程測繪、數(shu)據分(fen)析、建(jian)(jian)(jian)模等，為BIM設(she)(she)計、城市(shi)規(gui)劃、工程建(jian)(jian)(jian)設(she)(she)、古建(jian)(jian)(jian)遺產(chan)數(shu)字(zi)化檔(dang)案提供標準化服務 。

用三維激光測量古建筑，其步驟如下：

第(di)壹步(bu)：古建(jian)筑表面數據獲取。主要內容有(you)：確定(ding)測(ce)繪方案(an)，三維激光實地掃描。

以(yi)FARO Focus3D X330激光掃(sao)描(miao)(miao)儀(yi)獲取數據(ju)，Faro Focus3D X330是一款具有超長掃(sao)描(miao)(miao)距(ju)離(li)的高速三維掃(sao)描(miao)(miao)儀(yi)，掃(sao)描(miao)(miao)范(fan)圍遠距(ju)離(li)為500米，只(zhi)需進行少數掃(sao)描(miao)(miao)，就能(neng)對遠處的大(da)型、地(di)形復雜、難以(yi)靠(kao)近的古建筑、地(di)基坑道或物體完成數據(ju)收集及(ji)測量、因此能(neng)夠極大(da)地(di)提高1效(xiao)率。圖為機器整體外(wai)觀