光譜膜厚儀的原理主要基于光的干涉現象。當光線垂直入射到薄膜表面時，薄膜會對光線的反射和透射產生干涉，形成多重反射和透射波。這些波的相位差與薄膜的厚度密切相關。光譜膜厚儀通過測量這些多重反射和透射波之間.. 全文

一個好的透射率檢測儀廠家必須有一定的規模，有自己的生產工廠，有自己的技術團隊，而市場上的小作坊就不能被稱為廠家。因為小作坊沒有很大的保障，也沒有技術專員。 全文

可以的。透光率儀可同時測試光密度與透光率。儀器采用漫透射原理制成，適用于鍍鋁薄膜、鏡片油墨等材料的光密度測試，以及乳白半透明材料、磨砂霧面材料的透光率測試，如氧化鋯、乳白亞克力等。 全文

PI膜厚度測量儀在多次測量同一物體時的結果一致性，主要取決于測量儀的設計精度、測量環境的穩定性以及操作人員的熟練程度。首先，PI膜厚度測量儀通常采用了先進的測量原理和技術，如機械接觸式測量原理，以確保.. 全文